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  1. 学術雑誌論文
  2. 5 技術(工学)

Estimation of surface free energy at microstructured surface to investigate intermediate wetting state for partial wetting model

http://hdl.handle.net/10228/0002000340
http://hdl.handle.net/10228/0002000340
ae505127-514d-4891-bb62-1b3910bff0de
名前 / ファイル ライセンス アクション
10405792.pdf 10405792.pdf (1.9 MB)
アイテムタイプ 学術雑誌論文 = Journal Article(1)
公開日 2024-01-22
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ journal article
タイトル
タイトル Estimation of surface free energy at microstructured surface to investigate intermediate wetting state for partial wetting model
言語 en
言語
言語 eng
著者 Yu, Yankun

× Yu, Yankun

en Yu, Yankun

Search repository
Zhang, Dejian

× Zhang, Dejian

en Zhang, Dejian

Search repository
長山, 暁子

× 長山, 暁子

WEKO 15351
e-Rad 60370029
Scopus著者ID 6507439340
ORCiD 0000-0002-6836-9387
九工大研究者情報 28

en Nagayama, Gyoko

ja 長山, 暁子


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抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 While partial wetting at nano-/microstructured surfaces can be described using the intermediate wetting state between the Cassie–Baxter and Wenzel states, the limitations of the partial wetting model remain unclear. In this study, we performed surface free energy analysis at a microstructured Si–water interface from both theoretical and experimental viewpoints. We experimentally measured the water contact angle on microstructured Si surfaces with square holes and compared the measured values with theoretical predictions. Furthermore, the surface free energy was analyzed using the effective wetting area estimated from the measured contact angle and electrochemical impedance spectroscopy results. We verified the validity of the partial wetting model for fabricated Si surfaces with a hole aperture a less than 230 μm and a hole height h of 12 μm, and for a < 400 μm, h = 40 μm. The model was found to be applicable to microstructured Si surfaces with a/h < 10.
言語 en
書誌情報 en : Soft Matter

巻 19, 号 6, p. 1249-1257, 発行日 2023-01-20
出版社
出版者 Royal Society of Chemistry
言語 en
DOI
識別子タイプ DOI
関連識別子 https://doi.org/10.1039/D2SM01406H
ISSN
収録物識別子タイプ EISSN
収録物識別子 1744-683X
著作権関連情報
権利情報 Copyright (c) Royal Society of Chemistry
出版タイプ
出版タイプ AM
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_ab4af688f83e57aa
査読の有無
値 yes
研究者情報
URL https://hyokadb02.jimu.kyutech.ac.jp/html/28_ja.html
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Ver.1 2024-01-22 01:46:22.636024
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