ログイン
Language:

WEKO3

  • トップ
  • ランキング
To
lat lon distance
To

Field does not validate



インデックスリンク

インデックスツリー

メールアドレスを入力してください。

WEKO

One fine body…

WEKO

One fine body…

アイテム

  1. 学術雑誌論文
  2. 5 技術(工学)

Analysis and Measurement of the Surge and Gate-Noise Voltages in a 1.7-kV IGBT Module With the Effect of Reverse-Recovery Current

http://hdl.handle.net/10228/0002000745
http://hdl.handle.net/10228/0002000745
13918007-5b3f-4206-b7d2-83ae30c3808e
名前 / ファイル ライセンス アクション
nperc249.pdf nperc249.pdf (772 KB)
アイテムタイプ 学術雑誌論文 = Journal Article(1)
公開日 2024-06-07
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ journal article
タイトル
タイトル Analysis and Measurement of the Surge and Gate-Noise Voltages in a 1.7-kV IGBT Module With the Effect of Reverse-Recovery Current
言語 en
言語
言語 eng
著者 長谷川, 一徳

× 長谷川, 一徳

WEKO 28366
e-Rad_Researcher 80712637
Scopus著者ID 36938413600
九工大研究者情報 100000664

en Hasegawa, Kazunori

ja 長谷川, 一徳


Search repository
Takagi, Kai

× Takagi, Kai

en Takagi, Kai

Search repository
抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 This letter reveals the effect of the reverse-recovery current of a PIN diode on the surge and gate-noise voltages of an insulated-gate bipolar transistor (IGBT) in an inverter. Theoretical analysis reveals that the di/dt of the reverse-recovery current, the switching speed of the IGBT, and parasitic inductances affect the gate-noise voltage unlike a Schottky barrier diode because resonance does not occur due to junction capacitances. The analysis also indicates that the surge voltage may not occur when the dc voltage is increased even though a large amount of surge voltage occurs in a low dc voltage region. A 1-kV testing setup was designed and constructed using a 1.7-kV 260-A IGBT module, which confirms the validity of the theoretical analysis.
言語 en
書誌情報 en : IEEE Transactions on Power Electronics

巻 38, 号 7, p. 8051-8055, 発行日 2023-04-20
出版社
出版者 IEEE
DOI
識別子タイプ DOI
関連識別子 https://doi.org/10.1109/TPEL.2023.3268673
ISSN
収録物識別子タイプ PISSN
収録物識別子 0885-8993
ISSN
収録物識別子タイプ EISSN
収録物識別子 1941-0107
著作権関連情報
権利情報 Copyright (c) 2023 IEEE. Personal use of this material is permitted. Permission from IEEE must be obtained for all other uses, in any current or future media, including reprinting/republishing this material for advertising or promotional purposes, creating new collective works, for resale or redistribution to servers or lists, or reuse of any copyrighted component of this work in other works.
キーワード
主題Scheme Other
主題 Gate-noise voltage
キーワード
主題Scheme Other
主題 insulated-gate bipolar transistors
キーワード
主題Scheme Other
主題 inverters
キーワード
主題Scheme Other
主題 PIN diodes
キーワード
主題Scheme Other
主題 reverse-recovery current
キーワード
主題Scheme Other
主題 surge voltage
出版タイプ
出版タイプ AM
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_ab4af688f83e57aa
査読の有無
値 yes
戻る
0
views
See details
Views

Versions

Ver.1 2024-06-07 06:43:00.815810
Show All versions

Share

Share
tweet

Cite as

Other

print

エクスポート

OAI-PMH
  • OAI-PMH JPCOAR 2.0
  • OAI-PMH JPCOAR 1.0
  • OAI-PMH DublinCore
  • OAI-PMH DDI
Other Formats
  • JSON
  • BIBTEX
  • ZIP

コミュニティ

確認

確認

確認


Powered by WEKO3


Powered by WEKO3