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  1. 学術雑誌論文
  2. 5 技術(工学)

GPU-Accelerated Estimation and Targeted Reduction of Peak IR-Drop during Scan Chain Shifting

http://hdl.handle.net/10228/0002001004
http://hdl.handle.net/10228/0002001004
9b5f08bf-39e4-4af1-b5a9-9e9e99526174
名前 / ファイル ライセンス アクション
10441923.pdf 10441923.pdf (1.5 MB)
Item type 学術雑誌論文 = Journal Article(1)
公開日 2024-11-05
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ journal article
タイトル
タイトル GPU-Accelerated Estimation and Targeted Reduction of Peak IR-Drop during Scan Chain Shifting
言語 en
その他のタイトル
その他のタイトル GPU-Accelerated Estimation and Targeted Reduction of Peak IR-Drop during Scan Chain Shifting<sup>∗</sup>
言語 en
言語
言語 eng
著者 Shi, Shiling

× Shi, Shiling

en Shi, Shiling
Shi, S.

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ホルスト, シュテファン

× ホルスト, シュテファン

WEKO 26087
Scopus著者ID 36924245700
九工大研究者情報 100000663

en Holst, Stefan

ja ホルスト, シュテファン


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温, 暁青

× 温, 暁青

WEKO 1143
e-Rad_Researcher 20250897
Scopus著者ID 7201738030
九工大研究者情報 300

en Wen, Xiaoqing

ja 温, 暁青


Search repository
抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 High power dissipation during scan test often causes undue yield loss, especially for low-power circuits. One major reason is that the resulting IR-drop in shift mode may corrupt test data. A common approach to solving this problem is partial-shift, in which multiple scan chains are formed and only one group of scan chains is shifted at a time. However, existing partial-shift based methods suffer from two major problems: (1) their IR-drop estimation is not accurate enough or computationally too expensive to be done for each shift cycle; (2) partial-shift is hence applied to all shift cycles, resulting in long test time. This paper addresses these two problems with a novel IR-drop-aware scan shift method, featuring: (1) Cycle-based IR-Drop Estimation (CIDE) supported by a GPU-accelerated dynamic power simulator to quickly find potential shift cycles with excessive peak IR-drop; (2) a scan shift scheduling method that generates a scan chain grouping targeted for each considered shift cycle to reduce the impact on test time. Experiments on ITC'99 benchmark circuits show that: (1) the CIDE is computationally feasible; (2) the proposed scan shift schedule can achieve a global peak IR-drop reduction of up to 47%. Its scheduling efficiency is 58.4% higher than that of an existing typical method on average, which means our method has less test time.
言語 en
書誌情報 en : IEICE Transactions on Information and Systems

巻 E106.D, 号 10, p. 1694-1704, 発行日 2023-10-01
出版社
出版者 電子情報通信学会
言語 ja
DOI
関連タイプ isVersionOf
識別子タイプ DOI
関連識別子 https://doi.org/10.1587/transinf.2023EDP7011
NCID
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AA10826272
ISSN
収録物識別子タイプ PISSN
収録物識別子 0916-8532
ISSN
収録物識別子タイプ EISSN
収録物識別子 1745-1361
著作権関連情報
権利情報 Copyright (c) 2023 The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers
キーワード
主題Scheme Other
主題 shift switching activity
キーワード
主題Scheme Other
主題 peak IR-drop
キーワード
主題Scheme Other
主題 shift failure
キーワード
主題Scheme Other
主題 GPU-acceleration
キーワード
主題Scheme Other
主題 partial-shift
出版タイプ
出版タイプ VoR
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
査読の有無
値 yes
研究者情報
URL https://hyokadb02.jimu.kyutech.ac.jp/html/300_ja.html
研究者情報
URL https://hyokadb02.jimu.kyutech.ac.jp/html/100000663_ja.html
論文ID(連携)
値 10441923
連携ID
値 12427
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Ver.1 2024-11-05 12:00:35.987519
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