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  1. 学術雑誌論文
  2. 5 技術(工学)

SOI-パワーMOSFETにおける寄生バイポーラ効果と機械的応力効果の実験的評価

http://hdl.handle.net/10228/0002001465
http://hdl.handle.net/10228/0002001465
e5c9b203-ed40-4522-bc28-c6fb24a13d20
名前 / ファイル ライセンス アクション
nperc199.pdf nperc199.pdf (1.4 MB)
アイテムタイプ 共通アイテムタイプ(1)
公開日 2025-03-12
タイトル
タイトル SOI-パワーMOSFETにおける寄生バイポーラ効果と機械的応力効果の実験的評価
言語 ja
タイトル
タイトル Experimental Evaluation of Parasitic Bipolar Effects and Mechanical Stress Effects in SOI-Power-MOSFETs
言語 en
著者 塩塚, 航生

× 塩塚, 航生

ja 塩塚, 航生

en Shiotsuka, Koki

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小金丸, 正明

× 小金丸, 正明

ja 小金丸, 正明

en Koganemaru, Masaaki

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松本, 聡

× 松本, 聡

WEKO 27142
e-Rad_Researcher 10577282
Scopus著者ID 57194100450

ja 松本, 聡

en Matsumoto, Satoshi

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池田, 徹

× 池田, 徹

ja 池田, 徹

en Ikeda, Toru

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著作権関連情報
権利情報 Copyright (c) 2022 一般社団法人エレクトロニクス実装学会
言語 ja
抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 本研究では,SOI-パワーMOSFETにおける寄生バイポーラ効果と機械的応力効果を実験的に評価し,それらの相互作用を明らかにすることを目的とした。機械的負荷下での電気特性変動は,4点曲げ試験により評価した。ドレイン電圧-ドレイン電流特性では,ゲート電圧が小さいほど寄生バイポーラ効果によるドレイン電流の増加が顕著に見られた。ピエゾ効果のみによる電流特性変動領域と寄生バイポーラ効果が発現する領域との比較から,寄生バイポーラ効果が機械的負荷に起因する電気特性変動を加速させることが示唆された。また,電流方向に対する負荷方向依存性の存在が示唆されたが,ゲート長さ依存性は明確にならなかった。
言語 ja
抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 This paper reports on an experimental evaluation of mechanical stress effects in SOI (Silicon on Insulator) power devices. In particular, this study focuses on the interaction of parasitic bipolar effects which are unique physical phenomenon of SOI-type devices. The electrical characteristics of SOI-power-nMOSFETs (power n-type Metal-Oxide-Semiconductor Field-effect-transistors) under mechanical loading are measured using a four-point bending method. It is demonstrated that the parasitic bipolar effects may accelerate the electrical variation induced by the mechanical stress effects. In addition, the experimental results show the following:

• There may be a load direction dependence in the drain conductance change under the parasitic bipolar region.

• Gate-length dependence is not clarified.
言語 en
書誌情報 ja : エレクトロニクス実装学会誌

巻 25, 号 1, p. 103-110, 発行日 2022-01-01
出版社
出版者 エレクトロニクス実装学会
言語 ja
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 SOI
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 MOSFET
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 4-point Bending
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 Mechanical Stress Effects
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 Parasitic Bipolar Effects
言語
言語 jpn
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ journal article
出版タイプ
出版タイプ VoR
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
DOI
識別子タイプ DOI
関連識別子 https://doi.org/10.5104/jiep.JIEP-D-21-00007
CRID
識別子タイプ CRID
関連識別子 https://cir.nii.ac.jp/crid/1390009142390959360
NCID
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AA11231565
ISSN
収録物識別子タイプ PISSN
収録物識別子 1343-9677
ISSN
収録物識別子タイプ EISSN
収録物識別子 1884-121X
連携ID
値 10342
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Ver.1 2025-03-12 12:00:46.696793
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