WEKO3
アイテム
Characterization of the Semiconducter Electrode : Relaxation Effects of the Surface and Interface States
http://hdl.handle.net/10228/4236
http://hdl.handle.net/10228/42361b40e9de-4a6b-4be3-9454-bab82d47ab0a
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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tech43_p27_32.pdf (349.7 kB)
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| アイテムタイプ | 紀要論文 = Departmental Bulletin Paper(1) | |||||||||
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| 公開日 | 2010-01-28 | |||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||||||
| 資源タイプ | departmental bulletin paper | |||||||||
| タイトル | ||||||||||
| タイトル | Characterization of the Semiconducter Electrode : Relaxation Effects of the Surface and Interface States | |||||||||
| 言語 | en | |||||||||
| 言語 | ||||||||||
| 言語 | eng | |||||||||
| 著者 |
野上, 暁一
× 野上, 暁一
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| 書誌情報 |
九州工業大学研究報告. 工学 en : Bulletin of the Kyushu Institute of Technology. Science and technology 号 43, p. 27-32, 発行日 1981-09-01 |
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| 出版者 | ||||||||||
| 出版者 | 九州工業大学 | |||||||||
| ISSN | ||||||||||
| 収録物識別子タイプ | PISSN | |||||||||
| 収録物識別子 | 0453-0357 | |||||||||
| 版 | ||||||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||||||
| 査読の有無 | ||||||||||
| 値 | no | |||||||||
