WEKO3
アイテム
深い不純物準位をもつ半導体電極の評価法
http://hdl.handle.net/10228/4257
http://hdl.handle.net/10228/42573605747c-aa83-44a1-a4fe-bd57aa7e9877
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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tech44_p57_62.pdf (528.2 kB)
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| Item type | 紀要論文 = Departmental Bulletin Paper(1) | |||||||||
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| 公開日 | 2010-01-28 | |||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||||||
| 資源タイプ | departmental bulletin paper | |||||||||
| タイトル | ||||||||||
| タイトル | 深い不純物準位をもつ半導体電極の評価法 | |||||||||
| 言語 | ja | |||||||||
| タイトル | ||||||||||
| タイトル | Characterization of Semiconductor Electrodes with a Deep Impurity Level | |||||||||
| 言語 | en | |||||||||
| 言語 | ||||||||||
| 言語 | jpn | |||||||||
| 著者 |
野上, 暁一
× 野上, 暁一
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| 書誌情報 |
九州工業大学研究報告. 工学 en : Bulletin of the Kyushu Institute of Technology. Science and technology 号 44, p. 57-62, 発行日 1982-03-01 |
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| 出版者 | ||||||||||
| 出版者 | 九州工業大学 | |||||||||
| ISSN | ||||||||||
| 収録物識別子タイプ | PISSN | |||||||||
| 収録物識別子 | 0453-0357 | |||||||||
| 版 | ||||||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||||||
| 査読の有無 | ||||||||||
| 値 | no | |||||||||
