WEKO3
アイテム
Thermoelectric properties of n-type nanocrystalline bismuth-telluride-based thin films deposited by flash evaporation
http://hdl.handle.net/10228/576
http://hdl.handle.net/10228/57673a098cf-a068-4acb-aeee-97aa304a906f
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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| アイテムタイプ | 学術雑誌論文 = Journal Article(1) | |||||||||||||
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| 公開日 | 2007-12-27 | |||||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||||||||||
| 資源タイプ | journal article | |||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||
| タイトル | Thermoelectric properties of n-type nanocrystalline bismuth-telluride-based thin films deposited by flash evaporation | |||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||
| 言語 | ||||||||||||||
| 言語 | eng | |||||||||||||
| 著者 |
Takashiri, M
× Takashiri, M× Takiishi, M× Tanaka, S× 宮崎, 康次
WEKO
679
× 塚本, 寛 |
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| 抄録 | ||||||||||||||
| 内容記述タイプ | Abstract | |||||||||||||
| 内容記述 | The thermal conductivity of n-type nanocrystalline bismuth-telluride-based thin films (Bi2.0Te2.7Se0.3) is investigated by a differential 3 method at room temperature. The nanocrystalline thin films are grown on a glass substrate by a flash evaporation method, followed by hydrogen annealing at 250 °C. The structure of the thin films is studied by means of atomic force microscopy, x-ray diffraction, and energy-dispersive x-ray spectroscopy. The thin films exhibit an average grain size of 60 nm and a cross-plane thermal conductivity of 0.8 W/m K. The in-plane electrical conductivity and in-plane Seebeck coefficient are also investigated. Assuming that the in-plane thermal conductivity of the thin films is identical to that of the cross-plane direction, the in-plane figure of merit of the thin films is estimated to be ZT=0.7. As compared with a sintered bulk sample with average grain size of 30 µm and nearly the same composition as the thin films, the nanocrystalline thin films show approximately a 50% reduction in the thermal conductivity, but the electrical conductivity also falls 40%. The reduced thermal and electrical conductivities are attributed to increased carrier trapping and scattering in the nanocrystalline film. | |||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||
| 書誌情報 |
en : Journal of Applied Physics 巻 101, 号 7, p. 074301-1-074301-5, 発行日 2007-04-04 |
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| 出版社 | ||||||||||||||
| 出版者 | American Institute of Physics | |||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||
| DOI | ||||||||||||||
| 関連タイプ | isIdenticalTo | |||||||||||||
| 識別子タイプ | DOI | |||||||||||||
| 関連識別子 | https://doi.org/10.1063/1.2717867 | |||||||||||||
| ISSN | ||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | PISSN | |||||||||||||
| 収録物識別子 | 0021-8979 | |||||||||||||
| ISSN | ||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | EISSN | |||||||||||||
| 収録物識別子 | 1089-7550 | |||||||||||||
| 著作権関連情報 | ||||||||||||||
| 権利情報 | Copyright © 2007 American Institute of Physics | |||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||
| 主題 | bismuth compounds | |||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||
| 主題 | semiconductor materials | |||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||
| 主題 | semiconductor thin films | |||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||
| 主題 | nanostructured materials | |||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||
| 主題 | vacuum deposition | |||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||
| 主題 | thermal conductivity | |||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||
| 主題 | annealing | |||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||
| 主題 | atomic force microscopy | |||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||
| 主題 | X-ray diffraction | |||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||
| 主題 | X-ray chemical analysis | |||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||
| 主題 | grain size | |||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||
| 主題 | electrical conductivity | |||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||
| 主題 | Seebeck effect | |||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||
| 主題 | electron traps | |||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||
| 主題 | hole traps | |||||||||||||
| 出版タイプ | ||||||||||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||||||||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||||||||||
| 査読の有無 | ||||||||||||||
| 値 | yes | |||||||||||||