WEKO3
アイテム
VLSI回路の高歩留り化のための誤テスト回避と高精度故障診断に関する研究
https://doi.org/10.18997/00003612
https://doi.org/10.18997/00003612a6784141-5ce8-4d11-863e-c0cfe0ecae5d
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
D-71_jou_k_242.pdf (763.2 kB)
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| アイテムタイプ | 学位論文 = Thesis or Dissertation(1) | |||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2010-12-27 | |||||||
| 資源タイプ | ||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_db06 | |||||||
| 資源タイプ | doctoral thesis | |||||||
| タイトル | ||||||||
| タイトル | VLSI回路の高歩留り化のための誤テスト回避と高精度故障診断に関する研究 | |||||||
| 言語 | ja | |||||||
| 言語 | ||||||||
| 言語 | jpn | |||||||
| 著者 |
大和, 勇太
× 大和, 勇太
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| 目次 | ||||||||
| 内容記述タイプ | TableOfContents | |||||||
| 内容記述 | 第1章 序論||第2章 VLSIのテストと故障診断||第3章 低消費電力テスト技術||第4章 遺伝的アルゴリズムによる低消費電力X埋込み手法の提案||第5章 X故障診断技術 | |||||||
| 備考 | ||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||
| 内容記述 | 九州工業大学博士学位論文 学位記番号: 情工博甲第242号 学位授与年月日: 平成22年3月24日 | |||||||
| キーワード | ||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||
| 主題 | VLSI | |||||||
| キーワード | ||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||
| 主題 | テスト | |||||||
| キーワード | ||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||
| 主題 | 故障診断 | |||||||
| キーワード | ||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||
| 主題 | 歩留り | |||||||
| アドバイザー | ||||||||
| 温, 暁青 | ||||||||
| 学位授与番号 | ||||||||
| 学位授与番号 | 甲第242号 | |||||||
| 学位名 | ||||||||
| 学位名 | 博士（情報工学） | |||||||
| 学位授与年月日 | ||||||||
| 学位授与年月日 | 2010-03-24 | |||||||
| 学位授与機関 | ||||||||
| 学位授与機関識別子Scheme | kakenhi | |||||||
| 学位授与機関識別子 | 17104 | |||||||
| 学位授与機関名 | 九州工業大学 | |||||||
| 学位授与年度 | ||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||
| 内容記述 | 平成21年度 | |||||||
| 出版タイプ | ||||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||||
| アクセス権 | ||||||||
| アクセス権 | open access | |||||||
| アクセス権URI | http://purl.org/coar/access_right/c_abf2 | |||||||
| ID登録 | ||||||||
| ID登録 | 10.18997/00003612 | |||||||
| ID登録タイプ | JaLC | |||||||
