WEKO3
アイテム
Real-time Failure Monitoring System for High Power IGBT Under Acceleration Test Up to 500 A Stress
http://hdl.handle.net/10228/5736
http://hdl.handle.net/10228/57365fcfc921-7676-4cab-ae61-c4872ae1db61
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
|
|
|
| アイテムタイプ | 会議発表論文 = Conference Paper(1) | |||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2016-09-13 | |||||||||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_5794 | |||||||||||||||||
| 資源タイプ | conference paper | |||||||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||||||
| タイトル | Real-time Failure Monitoring System for High Power IGBT Under Acceleration Test Up to 500 A Stress | |||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||
| 言語 | ||||||||||||||||||
| 言語 | eng | |||||||||||||||||
| 著者 |
渡邉, 晃彦
× 渡邉, 晃彦
WEKO
16333
× 大村, 一郎
WEKO
16176
× Tsukuda, Masanori |
|||||||||||||||||
| 抄録 | ||||||||||||||||||
| 内容記述タイプ | Abstract | |||||||||||||||||
| 内容記述 | Real-time failure monitoring system for IGBT module was demonstrated under 500 A power cycling test. The system successfully captured internal phenomena occurred in interface regions of the device under test. Moreover, we proposed realtime failure analysis method by combining the real-time monitoring and image processing techniques. This failure analysis method enables to distinguish the place where degradation occurs in DUT and also trace internal degradation process to failure. | |||||||||||||||||
| 備考 | ||||||||||||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||||||||||||
| 内容記述 | 2014 IEEE 26th International Symposium on Power Semiconductor Devices & IC's (ISPSD), Jun 15-19, 2014, Hilton Waikoloa Village, Hawaii, USA | |||||||||||||||||
| 書誌情報 |
2014 IEEE 26th International Symposium on Power Semiconductor Devices & IC's (ISPSD) p. 338-341, 発行日 2014-06 |
|||||||||||||||||
| 出版社 | ||||||||||||||||||
| 出版社 | IEEE | |||||||||||||||||
| DOI | ||||||||||||||||||
| 関連タイプ | isVersionOf | |||||||||||||||||
| 識別子タイプ | DOI | |||||||||||||||||
| 関連識別子 | info:doi/10.1109/ISPSD.2014.6856045 | |||||||||||||||||
| ISSN | ||||||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | PISSN | |||||||||||||||||
| 収録物識別子 | 1943-653X | |||||||||||||||||
| 著作権関連情報 | ||||||||||||||||||
| 権利情報 | IEEE | |||||||||||||||||
| 出版タイプ | ||||||||||||||||||
| 出版タイプ | AM | |||||||||||||||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_ab4af688f83e57aa | |||||||||||||||||
| 査読の有無 | ||||||||||||||||||
| 値 | yes | |||||||||||||||||
| 連携ID | ||||||||||||||||||
| 値 | 5556 | |||||||||||||||||