WEKO3
アイテム
Real Time Failure Imaging System under Power Stress for Power Semiconductors using Scanning Acoustic Tomography (SAT)
http://hdl.handle.net/10228/5741
http://hdl.handle.net/10228/574110cafb1b-85be-4c7d-85ed-8ea4975ddb85
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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nperc21.pdf (1.2 MB)
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| アイテムタイプ | 学術雑誌論文 = Journal Article(1) | |||||||||||||||||||||
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| 公開日 | 2016-09-13 | |||||||||||||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||||||||||||||||||
| 資源タイプ | journal article | |||||||||||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||||||||||
| タイトル | Real Time Failure Imaging System under Power Stress for Power Semiconductors using Scanning Acoustic Tomography (SAT) | |||||||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||||||
| 言語 | ||||||||||||||||||||||
| 言語 | eng | |||||||||||||||||||||
| 著者 |
渡邉, 晃彦
× 渡邉, 晃彦
WEKO
16333
× 大村, 一郎
WEKO
16176
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| 抄録 | ||||||||||||||||||||||
| 内容記述タイプ | Abstract | |||||||||||||||||||||
| 内容記述 | Failure mechanism of power semiconductors is captured as a movie image under power stress to the device in non-destructive way. The new technique is realized by combining a high speed Scanning Acoustic Tomography (SAT/SAM) and electrical power supply circuit for applying the power stress to the device. Water as acoustic wave couplant in SAT system, which has been a major disadvantage of the system, is utilized as coolant for stressed power to the device. Major barriers to accomplish this system are a severe noise due to a local convection with the heat and a formation of tiny bubbles on the observation surface. These problems are solved by introducing water jet along the scanning interface. This technique enables “real-time” failure analysis. | |||||||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||||||
| 備考 | ||||||||||||||||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||||||||||||||||
| 内容記述 | 23rd European Symposium on Reliability of Electron Devices,. Failure Physics and Analysis, October 1-5, 2012, Cagliari, Italy | |||||||||||||||||||||
| 書誌情報 |
en : Microelectronics Reliability 巻 52, 号 9-10, p. 2081-2086, 発行日 2012-07-21 |
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| 出版社 | ||||||||||||||||||||||
| 出版者 | Elsevier | |||||||||||||||||||||
| DOI | ||||||||||||||||||||||
| 関連タイプ | isVersionOf | |||||||||||||||||||||
| 識別子タイプ | DOI | |||||||||||||||||||||
| 関連識別子 | https://doi.org/10.1016/j.microrel.2012.06.090 | |||||||||||||||||||||
| NCID | ||||||||||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||||||||||||||||
| 収録物識別子 | AA11538014 | |||||||||||||||||||||
| ISSN | ||||||||||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | PISSN | |||||||||||||||||||||
| 収録物識別子 | 0026-2714 | |||||||||||||||||||||
| ISSN | ||||||||||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | EISSN | |||||||||||||||||||||
| 収録物識別子 | 1872-941X | |||||||||||||||||||||
| 著作権関連情報 | ||||||||||||||||||||||
| 権利情報 | Elsevier | |||||||||||||||||||||
| 出版タイプ | ||||||||||||||||||||||
| 出版タイプ | AM | |||||||||||||||||||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_ab4af688f83e57aa | |||||||||||||||||||||
| 査読の有無 | ||||||||||||||||||||||
| 値 | yes | |||||||||||||||||||||
| 連携ID | ||||||||||||||||||||||
| 値 | 5593 | |||||||||||||||||||||
