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  1. 学会・会議発表論文
  2. 学会・会議発表論文

マイクロフィルムセンサを用いた電流集中現象の画像化

http://hdl.handle.net/10228/5758
http://hdl.handle.net/10228/5758
fd432890-e362-490e-b91d-3e0ad436102a
名前 / ファイル ライセンス アクション
nperc24.pdf nperc24.pdf (597.9 kB)
Item type 会議発表論文 = Conference Paper(1)
公開日 2016-09-13
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_5794
資源タイプ conference paper
タイトル
タイトル マイクロフィルムセンサを用いた電流集中現象の画像化
言語 ja
タイトル
タイトル IGBT chip current imaging system by scanning local magnetic field
言語 en
言語
言語 jpn
著者 松下, 幸平

× 松下, 幸平

WEKO 16323

ja 松下, 幸平

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白土, 博章

× 白土, 博章

WEKO 16324

ja 白土, 博章

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大村, 一郎

× 大村, 一郎

WEKO 16176
e-Rad_Researcher 10510670
Scopus著者ID 7003814580
九工大研究者情報 69

en Omura, Ichiro

ja 大村, 一郎

ja-Kana オオムラ, イチロウ

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抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 This paper develops an imaging system for current distribution on chips of a power device ncluding an IGBT. The system is useful for finding current concentration that may cause a failure of the power device. This paper uses very thin and very compact, mass producible at low cost, micro-film sensor that can be measured non-destructive and non-contact, 4-axis robot, analog amplifier, digitizer, a function generator. It integrates with LabVIEW on the whole system, the measurement can be performed automatically.
備考
内容記述タイプ Other
内容記述 電子デバイス/半導体電力変換合同研究会, 10月21日-22日, 2013年, 大阪大学 銀杏会館, 大阪府
書誌情報 電気学会研究会資料. EDD, 電子デバイス研究会

巻 EDD-13, p. EDD-13-064, 発行日 2013-10
出版社
出版社 社団法人電気学会
著作権関連情報
権利情報 社団法人電気学会
キーワード
主題Scheme Other
主題 パワーデバイス
キーワード
主題Scheme Other
主題 マイクロフィルムセンサ
キーワード
主題Scheme Other
主題 IGBT
キーワード
主題Scheme Other
主題 画像化
キーワード
主題Scheme Other
主題 LabVIEW
出版タイプ
出版タイプ VoR
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
査読の有無
値 yes
連携ID
値 5544
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Ver.1 2023-05-15 13:34:20.595771
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