WEKO3
アイテム
Real Time Failure Imaging of Power Semiconductors under Power Stress using Scanning Acoustic Tomography
http://hdl.handle.net/10228/5759
http://hdl.handle.net/10228/575953b6876a-9e67-45b7-8f1e-94268caae196
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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nperc14.pdf (694.9 kB)
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| アイテムタイプ | 会議発表論文 = Conference Paper(1) | |||||||||||||||||
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| 公開日 | 2016-09-13 | |||||||||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_5794 | |||||||||||||||||
| 資源タイプ | conference paper | |||||||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||||||
| タイトル | Real Time Failure Imaging of Power Semiconductors under Power Stress using Scanning Acoustic Tomography | |||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||
| 言語 | ||||||||||||||||||
| 言語 | eng | |||||||||||||||||
| 著者 |
渡邉, 晃彦
× 渡邉, 晃彦
WEKO
16333
× 大村, 一郎
WEKO
16176
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| 備考 | ||||||||||||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||||||||||||
| 内容記述 | 2012 International Conference on. Solid State Devices and Materials (SSDM 2012), September 25-27, 2012, Kyoto International Conference Center, Kyoto, Japan | |||||||||||||||||
| 書誌情報 |
2012 International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM 2012) 巻 L-1-2, p. 1233-1234, 発行日 2012-09 |
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| 出版社 | ||||||||||||||||||
| 出版社 | SSDM Organizing Committee | |||||||||||||||||
| 著作権関連情報 | ||||||||||||||||||
| 権利情報 | IEEE | |||||||||||||||||
| 出版タイプ | ||||||||||||||||||
| 出版タイプ | AM | |||||||||||||||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_ab4af688f83e57aa | |||||||||||||||||
| 査読の有無 | ||||||||||||||||||
| 値 | yes | |||||||||||||||||
| 連携ID | ||||||||||||||||||
| 値 | 5584 | |||||||||||||||||
