WEKO3
アイテム
Real time degradation monitoring system for high power IGBT module under power cycling test
http://hdl.handle.net/10228/5766
http://hdl.handle.net/10228/57661672e8b7-e6e4-44c5-9d9b-b21d7dfba853
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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nperc30.pdf (546.4 kB)
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| Item type | 学術雑誌論文 = Journal Article(1) | |||||||||||||||||||||
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| 公開日 | 2016-09-13 | |||||||||||||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||||||||||||||||||
| 資源タイプ | journal article | |||||||||||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||||||||||
| タイトル | Real time degradation monitoring system for high power IGBT module under power cycling test | |||||||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||||||
| 言語 | ||||||||||||||||||||||
| 言語 | eng | |||||||||||||||||||||
| 著者 |
渡邉, 晃彦
× 渡邉, 晃彦
WEKO
16333
× Tsukuda, M.× 大村, 一郎
WEKO
16176
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| 抄録 | ||||||||||||||||||||||
| 内容記述タイプ | Abstract | |||||||||||||||||||||
| 内容記述 | A “real time” monitoring system which enables to observe internal degradation process to failure of power semiconductors under power cycling test is proposed. The system was realized by combining a scanning acoustic tomography (SAT/SAM), power stress controlling, device cooling, water jet system and chip temperature monitoring. Two contradictory problems, namely, electrically wiring for power cycling and waterproof of device for SAT imaging were compatible with each other by experimental setup with an original water tank. Self-heating of power devices was supressed by controlling temperature of water which is couplant of ultrasonic wave for the SAT. A demonstration of this system was performed by using an IGBT module which maximum rating of collector current was 400 A (DC). | |||||||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||||||
| 備考 | ||||||||||||||||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||||||||||||||||
| 内容記述 | 24th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis. Schedule, September 30-October 4, 2013, Venue, Arcachon, France | |||||||||||||||||||||
| 書誌情報 |
en : Microelectronics Reliability 巻 53, 号 9-11, p. 1692-1696, 発行日 2013-10-12 |
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| 出版社 | ||||||||||||||||||||||
| 出版者 | Elsevier | |||||||||||||||||||||
| DOI | ||||||||||||||||||||||
| 関連タイプ | isVersionOf | |||||||||||||||||||||
| 識別子タイプ | DOI | |||||||||||||||||||||
| 関連識別子 | https://doi.org/10.1016/j.microrel.2013.07.084 | |||||||||||||||||||||
| NCID | ||||||||||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||||||||||||||||
| 収録物識別子 | AA11538014 | |||||||||||||||||||||
| ISSN | ||||||||||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | PISSN | |||||||||||||||||||||
| 収録物識別子 | 0026-2714 | |||||||||||||||||||||
| ISSN | ||||||||||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | EISSN | |||||||||||||||||||||
| 収録物識別子 | 1872-941X | |||||||||||||||||||||
| 著作権関連情報 | ||||||||||||||||||||||
| 権利情報 | Elsevier | |||||||||||||||||||||
| 出版タイプ | ||||||||||||||||||||||
| 出版タイプ | AM | |||||||||||||||||||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_ab4af688f83e57aa | |||||||||||||||||||||
| 査読の有無 | ||||||||||||||||||||||
| 値 | yes | |||||||||||||||||||||
| 連携ID | ||||||||||||||||||||||
| 値 | 5592 | |||||||||||||||||||||
