WEKO3
アイテム
High Speed Turn-on Gate Driving for 4.5kV IEGT without Increase in PiN Diode Recovery Current
http://hdl.handle.net/10228/5768
http://hdl.handle.net/10228/5768f6fac69a-2e55-442c-a699-bb1c31238e0a
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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nperc29.pdf (452.0 kB)
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| Item type | 会議発表論文 = Conference Paper(1) | |||||||||||
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| 公開日 | 2016-09-13 | |||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_5794 | |||||||||||
| 資源タイプ | conference paper | |||||||||||
| タイトル | ||||||||||||
| タイトル | High Speed Turn-on Gate Driving for 4.5kV IEGT without Increase in PiN Diode Recovery Current | |||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||
| 言語 | ||||||||||||
| 言語 | eng | |||||||||||
| 著者 |
Miki, Yamato
× Miki, Yamato× Mukunoki, Makoto× Matsuyoshi, Takashi× Tsukuda, Masanori× 大村, 一郎
WEKO
16176
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| 抄録 | ||||||||||||
| 内容記述タイプ | Abstract | |||||||||||
| 内容記述 | 4.5 kV IEGT turn-on loss reduction is experimentally and numerically achieved by employing the proposed simple two step gate drive method without affecting PiN diode reverse recovery performance. It was found that 14% of turn-on loss is reduced only by the simple method. This study determines, for the first time, the optimum gate driving in the two step gate drive which can reduce IEGT turn-on loss maximally without affecting PiN diode reverse recovery performance by TCAD simulation. The method is simple yet effective for reducing switching loss of high voltage IEGT. | |||||||||||
| 備考 | ||||||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||||||
| 内容記述 | 2013 25th International Symposium on Power Semiconductor Devices & IC's (ISPSD), May 26-30, 2013, Ishikawa Ongakudo, Kanazawa. Japan. | |||||||||||
| 書誌情報 |
2013 25th International Symposium on Power Semiconductor Devices & IC's (ISPSD) 号 1943-653X, p. 347-350, 発行日 2013-05 |
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| 出版社 | ||||||||||||
| 出版社 | IEEE | |||||||||||
| DOI | ||||||||||||
| 関連タイプ | isVersionOf | |||||||||||
| 識別子タイプ | DOI | |||||||||||
| 関連識別子 | info:doi/10.1109/ISPSD.2013.6694419 | |||||||||||
| 著作権関連情報 | ||||||||||||
| 権利情報 | IEEE | |||||||||||
| キーワード | ||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||
| 主題 | component | |||||||||||
| キーワード | ||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||
| 主題 | IGB | |||||||||||
| キーワード | ||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||
| 主題 | IEGT | |||||||||||
| キーワード | ||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||
| 主題 | PiN diode | |||||||||||
| キーワード | ||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||
| 主題 | switching loss | |||||||||||
| 出版タイプ | ||||||||||||
| 出版タイプ | AM | |||||||||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_ab4af688f83e57aa | |||||||||||
| 査読の有無 | ||||||||||||
| 値 | yes | |||||||||||
| 連携ID | ||||||||||||
| 値 | 5558 | |||||||||||
