WEKO3
アイテム
Tiny-scale “stealth” current sensor to probe power semiconductor device failure
http://hdl.handle.net/10228/5772
http://hdl.handle.net/10228/577267a3dbbe-803a-45bc-8f27-76b9783ee133
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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| アイテムタイプ | 学術雑誌論文 = Journal Article(1) | |||||||||||||
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| 公開日 | 2016-09-13 | |||||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||||||||||
| 資源タイプ | journal article | |||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||
| タイトル | Tiny-scale “stealth” current sensor to probe power semiconductor device failure | |||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||
| 言語 | ||||||||||||||
| 言語 | eng | |||||||||||||
| 著者 |
Kasho, Yuya
× Kasho, Yuya× Hirai, Hidetoshi× Tsukuda, Masanori× 大村, 一郎
WEKO
16176
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| 抄録 | ||||||||||||||
| 内容記述タイプ | Abstract | |||||||||||||
| 内容記述 | “Stealthy” electric current probing technique for power electronics circuits, power device modules and chips makes it possible to measure electric current without any change or disassembling the circuit and the chip connection for the measurement. The technique consists of a tiny-scale magnetic-field coil, a high speed analog amplifier and a digitizer with numerical data processing. This technique can be applied to a single bonding wire current measurement inside IGBT modules, chip scale current redistribution measurement and current measurement for surface mount devices. The “stealth” current measurement can be utilized in the failure mechanism understanding of power devices including IGBT short circuit destruction. | |||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||
| 備考 | ||||||||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||||||||
| 内容記述 | 2011 22nd European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, ESREF 2011, Oct 3-7, 2011, Universit Bordeaux 1, Domaine Haut Carr, Agora Talence, France | |||||||||||||
| 書誌情報 |
en : Microelectronics reliability 巻 51, 号 9-11, p. 1689-1692, 発行日 2011-07-23 |
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| 出版社 | ||||||||||||||
| 出版者 | Elsevier | |||||||||||||
| DOI | ||||||||||||||
| 関連タイプ | isVersionOf | |||||||||||||
| 識別子タイプ | DOI | |||||||||||||
| 関連識別子 | https://doi.org/10.1016/j.microrel.2011.06.015 | |||||||||||||
| NCID | ||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||||||||
| 収録物識別子 | AA11538014 | |||||||||||||
| ISSN | ||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | PISSN | |||||||||||||
| 収録物識別子 | 0026-2714 | |||||||||||||
| ISSN | ||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | EISSN | |||||||||||||
| 収録物識別子 | 1872-941X | |||||||||||||
| 著作権関連情報 | ||||||||||||||
| 権利情報 | Elsevier | |||||||||||||
| 出版タイプ | ||||||||||||||
| 出版タイプ | AM | |||||||||||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_ab4af688f83e57aa | |||||||||||||
| 査読の有無 | ||||||||||||||
| 値 | yes | |||||||||||||
| 連携ID | ||||||||||||||
| 値 | 5596 | |||||||||||||