@article{oai:kyutech.repo.nii.ac.jp:00005067,
 author = {樋上,  喜信 and Kajihara, Seiji and 梶原, 誠司 and 市原,  英行 and 高松,  雄三},
 issue = {3},
 journal = {電子情報通信学会論文誌. D-I, 情報・システム, I-情報処理},
 month = {Mar},
 note = {論理回路の大規模化とともに,テストコストの増大が深刻な問題となっている.特に大規模な論理回路では,テストデータ量やテスト実行時間の削減が,テストコスト削減の重要な課題である.本論文では,高い故障検出率のテストパターンをできるだけ少ないテストベクトル数で実現するためのテストコンパクション技術,付加ハードウェアによるテストデータの展開・伸長を前提に圧縮を行うテストコンプレッション技術,及び,スキャン設計回路におけるテスト実行時間削減技術について概説する.},
 pages = {291--307},
 title = {論理回路に対するテストコスト削減法―テストデータ量及びテスト実行時間の削減―},
 volume = {J87-D-1},
 year = {2004},
 yomi = {カジハラ, セイジ}
}