@article{oai:kyutech.repo.nii.ac.jp:00005068,
 author = {佐藤,  康夫 and 浜田,  周治 and 前田,  敏行 and 高取,  厚夫 and 野津山,  泰行 and Kajihara, Seiji and 梶原, 誠司},
 issue = {8},
 journal = {電子情報通信学会論文誌. D, 情報・システム},
 month = {Aug},
 note = {遅延テストの品質評価には，遷移遅延故障モデルが広く用いられてきた．しかし，論理的な網羅性のみに着目しているため，微小な遅延欠陥の検出能力は明らかでなかった．そこで筆者らは微小な遅延欠陥の検出能力を，半導体製造プロセスの品質，設計の遅延変動に対するロバスト性，テストタイミング精度，及びテストパターンの論理的網羅性を総合的に反映して求める統計的遅延品質モデル（SDQM：statistical delay quality model）を提案し，本論文では，その大規模データに対するフィージビリティを評価した．商用のテスト生成ツールによるテストパターンを用いてSDQM の計算を行い，SDQMの計算の処理時間とメモリ量が適用可能なレベルであることを確認した．また，本モデルを用いたテストパターンの分析により，従来の遷移遅延故障モデルによるテストパターンは，長い論理パスが活性化されて初めて可能になる微小遅延欠陥の検出能力が十分でなく，アルゴリズム改良が必要なことを，定量的に示すことができた．},
 pages = {1717--1728},
 title = {統計的遅延品質モデル(SDQM)のフィージビリティ評価},
 volume = {J89-D},
 year = {2006},
 yomi = {カジハラ, セイジ}
}