WEKO3
アイテム
Failure Rate Calculation Method for High Voltage Semiconductor Devices under Space Radiation Environments
http://hdl.handle.net/10228/00006447
http://hdl.handle.net/10228/0000644772ed289b-4421-4e32-8f2f-d315add859ca
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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kou_kou_445.pdf (278.6 kB)
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| アイテムタイプ | 学位論文 = Thesis or Dissertation(1) | |||||||
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| 公開日 | 2017-12-18 | |||||||
| 資源タイプ | ||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_46ec | |||||||
| 資源タイプ | thesis | |||||||
| タイトル | ||||||||
| タイトル | Failure Rate Calculation Method for High Voltage Semiconductor Devices under Space Radiation Environments | |||||||
| 言語 | en | |||||||
| その他のタイトル | ||||||||
| その他のタイトル | 高耐圧パワー半導体素子の宇宙放射線環境下故障率の計算手法に関する研究 | |||||||
| 言語 | ja | |||||||
| 言語 | ||||||||
| 言語 | jpn | |||||||
| 著者 |
Erdenebaatar, Dashdondog
× Erdenebaatar, Dashdondog
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| 備考 | ||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||
| 内容記述 | 九州工業大学博士学位論文（要旨）学位記番号：工博甲第445号 学位授与年月日：平成29年9月22日 | |||||||
| 学位授与番号 | ||||||||
| 学位授与番号 | 甲第445号 | |||||||
| 学位授与年月日 | ||||||||
| 学位授与年月日 | 2017-09-22 | |||||||
| 学位授与機関 | ||||||||
| 学位授与機関識別子Scheme | kakenhi | |||||||
| 学位授与機関識別子 | 17104 | |||||||
| 学位授与機関名 | 九州工業大学 | |||||||
| 出版タイプ | ||||||||
| 出版タイプ | NA | |||||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_be7fb7dd8ff6fe43 | |||||||
| 著者所属 | ||||||||
| 九州工業大学大学院工学府 | ||||||||
