WEKO3
アイテム
A Capture-Safety Checking Metric Based on Transition-Time-Relation for At-Speed Scan Testing
http://hdl.handle.net/10228/00007525
http://hdl.handle.net/10228/00007525ae32aae3-0a4e-4897-8456-89f3046ba938
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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transinf.E96.D.2003.pdf (1.7 MB)
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| アイテムタイプ | 学術雑誌論文 = Journal Article(1) | |||||||||||||
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| 公開日 | 2020-01-10 | |||||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||||||||||
| 資源タイプ | journal article | |||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||
| タイトル | A Capture-Safety Checking Metric Based on Transition-Time-Relation for At-Speed Scan Testing | |||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||
| 言語 | ||||||||||||||
| 言語 | eng | |||||||||||||
| 著者 |
宮瀬, 紘平
× 宮瀬, 紘平
WEKO
6567
× Sakai, Ryota× 温, 暁青× Aso, Masao× Furukawa, Hiroshi× Yamato, Yuta× 梶原, 誠司 |
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| 抄録 | ||||||||||||||
| 内容記述タイプ | Abstract | |||||||||||||
| 内容記述 | Test power has become a critical issue, especially for low-power devices with deeply optimized functional power profiles. Particularly, excessive capture power in at-speed scan testing may cause timing failures that result in test-induced yield loss. This has made capture-safety checking mandatory for test vectors. However, previous capture-safety checking metrics suffer from inadequate accuracy since they ignore the time relations among different transitions caused by a test vector in a circuit. This paper presents a novel metric called the Transition-Time-Relation-based (TTR) metric which takes transition time relations into consideration in capture-safety checking. Detailed analysis done on an industrial circuit has demonstrated the advantages of the TTR metric. Capture-safety checking with the TTR metric greatly improves the accuracy of test vector sign-off and low-capture-power test generation. | |||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||
| 書誌情報 |
en : IEICE Transactions on Information and Systems 巻 E96.D, 号 9, p. 2003-2011, 発行日 2013-09-01 |
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| 出版社 | ||||||||||||||
| 出版者 | 電子情報通信学会 | |||||||||||||
| 言語 | ja | |||||||||||||
| DOI | ||||||||||||||
| 関連タイプ | isIdenticalTo | |||||||||||||
| 識別子タイプ | DOI | |||||||||||||
| 関連識別子 | https://doi.org/10.1587/transinf.E96.D.2003 | |||||||||||||
| NCID | ||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||||||||
| 収録物識別子 | AA10826272 | |||||||||||||
| ISSN | ||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | PISSN | |||||||||||||
| 収録物識別子 | 0916-8532 | |||||||||||||
| ISSN | ||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | EISSN | |||||||||||||
| 収録物識別子 | 1745-1361 | |||||||||||||
| 著作権関連情報 | ||||||||||||||
| 権利情報 | Copyright (c) 2013 The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers | |||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||
| 主題 | at-speed testing | |||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||
| 主題 | ATPG | |||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||
| 主題 | IR-drop | |||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||
| 主題 | test power reduction | |||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||
| 主題 | low power test | |||||||||||||
| 出版タイプ | ||||||||||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||||||||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||||||||||
| 査読の有無 | ||||||||||||||
| 値 | yes | |||||||||||||
| 研究者情報 | ||||||||||||||
| URL | https://hyokadb02.jimu.kyutech.ac.jp/html/300_ja.html | |||||||||||||
| 論文ID（連携） | ||||||||||||||
| 値 | 10274120 | |||||||||||||
| 連携ID | ||||||||||||||
| 値 | 8034 | |||||||||||||
