WEKO3
アイテム
A Capture-Safety Checking Metric Based on Transition-Time-Relation for At-Speed Scan Testing
http://hdl.handle.net/10228/00007525
http://hdl.handle.net/10228/00007525ae32aae3-0a4e-4897-8456-89f3046ba938
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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transinf.E96.D.2003.pdf (1.7 MB)
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| Item type | 学術雑誌論文 = Journal Article(1) | |||||||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2020-01-10 | |||||||||||||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||||||||||||||||||
| 資源タイプ | journal article | |||||||||||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||||||||||
| タイトル | A Capture-Safety Checking Metric Based on Transition-Time-Relation for At-Speed Scan Testing | |||||||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||||||
| 言語 | ||||||||||||||||||||||
| 言語 | eng | |||||||||||||||||||||
| 著者 |
宮瀬, 紘平
× 宮瀬, 紘平
WEKO
6567
× Sakai, Ryota× 温, 暁青
WEKO
1143
× Aso, Masao× Furukawa, Hiroshi× Yamato, Yuta× 梶原, 誠司 |
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| 抄録 | ||||||||||||||||||||||
| 内容記述タイプ | Abstract | |||||||||||||||||||||
| 内容記述 | Test power has become a critical issue, especially for low-power devices with deeply optimized functional power profiles. Particularly, excessive capture power in at-speed scan testing may cause timing failures that result in test-induced yield loss. This has made capture-safety checking mandatory for test vectors. However, previous capture-safety checking metrics suffer from inadequate accuracy since they ignore the time relations among different transitions caused by a test vector in a circuit. This paper presents a novel metric called the Transition-Time-Relation-based (TTR) metric which takes transition time relations into consideration in capture-safety checking. Detailed analysis done on an industrial circuit has demonstrated the advantages of the TTR metric. Capture-safety checking with the TTR metric greatly improves the accuracy of test vector sign-off and low-capture-power test generation. | |||||||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||||||
| 書誌情報 |
en : IEICE Transactions on Information and Systems 巻 E96.D, 号 9, p. 2003-2011, 発行日 2013-09-01 |
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| 出版社 | ||||||||||||||||||||||
| 出版者 | 電子情報通信学会 | |||||||||||||||||||||
| 言語 | ja | |||||||||||||||||||||
| DOI | ||||||||||||||||||||||
| 関連タイプ | isIdenticalTo | |||||||||||||||||||||
| 識別子タイプ | DOI | |||||||||||||||||||||
| 関連識別子 | https://doi.org/10.1587/transinf.E96.D.2003 | |||||||||||||||||||||
| NCID | ||||||||||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||||||||||||||||
| 収録物識別子 | AA10826272 | |||||||||||||||||||||
| ISSN | ||||||||||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | PISSN | |||||||||||||||||||||
| 収録物識別子 | 0916-8532 | |||||||||||||||||||||
| ISSN | ||||||||||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | EISSN | |||||||||||||||||||||
| 収録物識別子 | 1745-1361 | |||||||||||||||||||||
| 著作権関連情報 | ||||||||||||||||||||||
| 権利情報 | Copyright (c) 2013 The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers | |||||||||||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||||||||||
| 主題 | at-speed testing | |||||||||||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||||||||||
| 主題 | ATPG | |||||||||||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||||||||||
| 主題 | IR-drop | |||||||||||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||||||||||
| 主題 | test power reduction | |||||||||||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||||||||||
| 主題 | low power test | |||||||||||||||||||||
| 出版タイプ | ||||||||||||||||||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||||||||||||||||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||||||||||||||||||
| 査読の有無 | ||||||||||||||||||||||
| 値 | yes | |||||||||||||||||||||
| 研究者情報 | ||||||||||||||||||||||
| URL | https://hyokadb02.jimu.kyutech.ac.jp/html/300_ja.html | |||||||||||||||||||||
| 論文ID（連携） | ||||||||||||||||||||||
| 値 | 10274120 | |||||||||||||||||||||
| 連携ID | ||||||||||||||||||||||
| 値 | 8034 | |||||||||||||||||||||
