WEKO3
アイテム / High Launch Switching Activity Reduction in At-Speed Scan Testing Using CTX: A Clock-Gating-Based Test Relaxation and X-Filling Scheme / transinf
transinf
ファイル | ライセンス |
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transinf.E93.D.2.pdf (1.8 MB) sha256 6c8bc57ff69537964ce4db81a6edb8e5d6198fc7ca93398b6622c611108f3804 |
公開日 | 2020-01-15 | |||||
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ファイル名 | transinf.E93.D.2.pdf | |||||
本文URL | https://kyutech.repo.nii.ac.jp/record/6320/files/transinf.E93.D.2.pdf | |||||
ラベル | transinf.E93.D.2.pdf | |||||
フォーマット | application/pdf | |||||
サイズ | 1.8 MB |
Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/Hide |
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