WEKO3
アイテム
Vth-shiftable SRAM cell TEGs for direct measurement for the immunity of the threshold voltage variability
http://hdl.handle.net/10228/00007548
http://hdl.handle.net/10228/000075485bc5e40e-6514-441f-b308-47190c9467f4
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
10301951.pdf (425.6 kB)
|
|
| Item type | 会議発表論文 = Conference Paper(1) | |||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2020-01-21 | |||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_5794 | |||||||||||
| 資源タイプ | conference paper | |||||||||||
| タイトル | ||||||||||||
| タイトル | Vth-shiftable SRAM cell TEGs for direct measurement for the immunity of the threshold voltage variability | |||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||
| その他のタイトル | ||||||||||||
| その他のタイトル | Vth-Shiftable SRAM Cell TEGs for Direct Measurement for the immunity of the Threshold Voltage Variability | |||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||
| 言語 | ||||||||||||
| 言語 | eng | |||||||||||
| 著者 |
Yamaguchi, Shogo
× Yamaguchi, Shogo× Imi, Hitoshi× Tokumaru, Shogo× Kondo, Takahiro× Yamamoto, Hiromasa× 中村, 和之
WEKO
26231
|
|||||||||||
| 抄録 | ||||||||||||
| 内容記述タイプ | Abstract | |||||||||||
| 内容記述 | We developed VTSTs for 6T-SRAM and RL-SRAM and evaluated them to investigate the influences of SRAM operation by Vth fluctuation using measured FCMs and CΔVths. As a result, we successfully confirmed the superior immunity of Vth fluctuation of the RL-SRAM than the 6T-SRAM. | |||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||
| 備考 | ||||||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||||||
| 内容記述 | IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS 2017), 27-30 March 2017, Grenoble, France | |||||||||||
| 書誌情報 |
en : 2017 International Conference of Microelectronic Test Structures (ICMTS) 発行日 2017-06-22 |
|||||||||||
| 出版社 | ||||||||||||
| 出版社 | IEEE | |||||||||||
| DOI | ||||||||||||
| 関連タイプ | isVersionOf | |||||||||||
| 識別子タイプ | DOI | |||||||||||
| 関連識別子 | https://doi.org/10.1109/ICMTS.2017.7954265 | |||||||||||
| ISBN | ||||||||||||
| 識別子タイプ | ISBN | |||||||||||
| 関連識別子 | 978-1-5090-3615-8 | |||||||||||
| ISBN | ||||||||||||
| 識別子タイプ | ISBN | |||||||||||
| 関連識別子 | 978-1-5090-3616-5 | |||||||||||
| ISSN | ||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | EISSN | |||||||||||
| 収録物識別子 | 2158-1029 | |||||||||||
| 著作権関連情報 | ||||||||||||
| 権利情報 | Copyright (c) 2017 IEEE. Personal use of this material is permitted. Permission from IEEE must be obtained for all other uses, in any current or future media, including reprinting/republishing this material for advertising or promotional purposes, creating new collective works, for resale or redistribution to servers or lists, or reuse of any copyrighted component of this work in other works. | |||||||||||
| キーワード | ||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||
| 主題 | SRAM cells | |||||||||||
| キーワード | ||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||
| 主題 | MOSFET | |||||||||||
| キーワード | ||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||
| 主題 | Frequency control | |||||||||||
| キーワード | ||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||
| 主題 | Microelectronics | |||||||||||
| キーワード | ||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||
| 主題 | Conferences | |||||||||||
| キーワード | ||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||
| 主題 | Voltage measurement | |||||||||||
| 出版タイプ | ||||||||||||
| 出版タイプ | AM | |||||||||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_ab4af688f83e57aa | |||||||||||
| 査読の有無 | ||||||||||||
| 値 | yes | |||||||||||
| 研究者情報 | ||||||||||||
| URL | https://hyokadb02.jimu.kyutech.ac.jp/html/381_ja.html | |||||||||||
| 論文ID（連携） | ||||||||||||
| 値 | 10301951 | |||||||||||
| 連携ID | ||||||||||||
| 値 | 8057 | |||||||||||
