WEKO3
アイテム
Monte Carlo Analysis by Direct Measurement using Vth-shiftable SRAM Cell TEG
http://hdl.handle.net/10228/00007549
http://hdl.handle.net/10228/000075497c8f378b-376f-4fe5-9215-0ca3fe8b3711
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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10327965.pdf (363.0 kB)
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| Item type | 会議発表論文 = Conference Paper(1) | |||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2020-01-21 | |||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_5794 | |||||||||||
| 資源タイプ | conference paper | |||||||||||
| タイトル | ||||||||||||
| タイトル | Monte Carlo Analysis by Direct Measurement using Vth-shiftable SRAM Cell TEG | |||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||
| 言語 | ||||||||||||
| 言語 | eng | |||||||||||
| 著者 |
Yamaguchi, Shogo
× Yamaguchi, Shogo× Nishikata, Daisuke× Imi, Hitoshi× 中村, 和之
WEKO
26231
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| 抄録 | ||||||||||||
| 内容記述タイプ | Abstract | |||||||||||
| 内容記述 | The measurement system in which the Monte Carlo analysis of SRAM operation can be performed in actual measurement using Vth-shiftable SRAM cell TEG (VTST) was developed. The dynamic Vth-shift circuit (DVSC) using electrolytic capacitors and mechanical relays for setting individual Vth-shift voltages for six MOSFETs in a memory cell enables to share a programmable external voltage source. The measured results of the Monte Carlo analysis for SRAM function test and the static noise margin evaluation were agreed well with the simulated results. The proposed method can compactly cope with the recently proposed SRAM with a larger number of transistors. | |||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||
| 備考 | ||||||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||||||
| 内容記述 | IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS 2018), 19-22 March 2018, Austin, TX, USA | |||||||||||
| 書誌情報 |
en : 2018 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS) 発行日 2018-06-14 |
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| 出版社 | ||||||||||||
| 出版社 | IEEE | |||||||||||
| DOI | ||||||||||||
| 関連タイプ | isVersionOf | |||||||||||
| 識別子タイプ | DOI | |||||||||||
| 関連識別子 | https://doi.org/10.1109/ICMTS.2018.8383772 | |||||||||||
| ISBN | ||||||||||||
| 識別子タイプ | ISBN | |||||||||||
| 関連識別子 | 978-1-5386-5071-4 | |||||||||||
| ISBN | ||||||||||||
| 識別子タイプ | ISBN | |||||||||||
| 関連識別子 | 978-1-5386-5069-1 | |||||||||||
| ISBN | ||||||||||||
| 識別子タイプ | ISBN | |||||||||||
| 関連識別子 | 978-1-5386-5070-7 | |||||||||||
| ISBN | ||||||||||||
| 識別子タイプ | ISBN | |||||||||||
| 関連識別子 | 978-1-5386-5072-1 | |||||||||||
| ISSN | ||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | EISSN | |||||||||||
| 収録物識別子 | 2158-1029 | |||||||||||
| ISSN | ||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | PISSN | |||||||||||
| 収録物識別子 | 1071-9032 | |||||||||||
| 著作権関連情報 | ||||||||||||
| 権利情報 | Copyright (c) 2018 IEEE. Personal use of this material is permitted. Permission from IEEE must be obtained for all other uses, in any current or future media, including reprinting/republishing this material for advertising or promotional purposes, creating new collective works, for resale or redistribution to servers or lists, or reuse of any copyrighted component of this work in other works. | |||||||||||
| キーワード | ||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||
| 主題 | SRAM | |||||||||||
| キーワード | ||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||
| 主題 | Monte Carlo analysis | |||||||||||
| キーワード | ||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||
| 主題 | SPICE | |||||||||||
| キーワード | ||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||
| 主題 | static noise margin | |||||||||||
| キーワード | ||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||
| 主題 | ratioless SRAM | |||||||||||
| 出版タイプ | ||||||||||||
| 出版タイプ | AM | |||||||||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_ab4af688f83e57aa | |||||||||||
| 査読の有無 | ||||||||||||
| 値 | yes | |||||||||||
| 研究者情報 | ||||||||||||
| URL | https://hyokadb02.jimu.kyutech.ac.jp/html/381_ja.html | |||||||||||
| 論文ID（連携） | ||||||||||||
| 値 | 10327965 | |||||||||||
| 連携ID | ||||||||||||
| 値 | 8058 | |||||||||||
