WEKO3
アイテム
A Vth-Shiftable SRAM Cell TEGs for Direct Measurement for the immunity of the Threshold Voltage Variability
http://hdl.handle.net/10228/00007552
http://hdl.handle.net/10228/0000755294cabff5-d2a5-4662-b5a4-87cc96887d7d
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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10301952.pdf (302.5 kB)
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| アイテムタイプ | 会議発表論文 = Conference Paper(1) | |||||||||||
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| 公開日 | 2020-01-22 | |||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_5794 | |||||||||||
| 資源タイプ | conference paper | |||||||||||
| タイトル | ||||||||||||
| タイトル | A Vth-Shiftable SRAM Cell TEGs for Direct Measurement for the immunity of the Threshold Voltage Variability | |||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||
| 言語 | ||||||||||||
| 言語 | eng | |||||||||||
| 著者 |
Yamaguchi, Shogo
× Yamaguchi, Shogo× Imi, Hitoshi× Tokumaru, Shogo× 中村, 和之
WEKO
26231
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| 備考 | ||||||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||||||
| 内容記述 | IEEE/ACM Workshop on Variability Modeling and Characterization (VMC 2016), November 10, 2016, Austin, TX, USA | |||||||||||
| 書誌情報 |
IEEE/ACM Workshop on Variability Modeling and Characterization (VMC 2016) 発行日 2016-11-10 |
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| 出版社 | ||||||||||||
| 出版社 | Workshop on Variability Modeling and Characterization | |||||||||||
| URI | ||||||||||||
| 識別子タイプ | URI | |||||||||||
| 関連識別子 | https://www.cerc.utexas.edu/utda/vmc/2016/ | |||||||||||
| 出版タイプ | ||||||||||||
| 出版タイプ | AM | |||||||||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_ab4af688f83e57aa | |||||||||||
| 査読の有無 | ||||||||||||
| 値 | yes | |||||||||||
| 研究者情報 | ||||||||||||
| URL | https://hyokadb02.jimu.kyutech.ac.jp/html/381_ja.html | |||||||||||
| 論文ID（連携） | ||||||||||||
| 値 | 10301952 | |||||||||||
| 連携ID | ||||||||||||
| 値 | 8062 | |||||||||||
