WEKO3
アイテム
CTX: A Clock-Gating-Based Test Relaxation and X-Filling Scheme for Reducing Yield Loss Risk in At-Speed Scan Testing
http://hdl.handle.net/10228/00007583
http://hdl.handle.net/10228/000075835828b8fb-8649-4f9e-8cba-d7593b3c708d
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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10056680.pdf (1.3 MB)
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| Item type | 学術雑誌論文 = Journal Article(1) | |||||||||||||||||||||
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| 公開日 | 2020-01-30 | |||||||||||||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||||||||||||||||||
| 資源タイプ | journal article | |||||||||||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||||||||||
| タイトル | CTX: A Clock-Gating-Based Test Relaxation and X-Filling Scheme for Reducing Yield Loss Risk in At-Speed Scan Testing | |||||||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||||||
| 言語 | ||||||||||||||||||||||
| 言語 | eng | |||||||||||||||||||||
| 著者 |
Furukawa, H.
× Furukawa, H.× 温, 暁青
WEKO
1143
× 宮瀬, 紘平
WEKO
6567
× Yamato, Yuta× 梶原, 誠司× Girard, Patrick× Wang, L.-T.× Teharanipoor, M. |
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| 抄録 | ||||||||||||||||||||||
| 内容記述タイプ | Abstract | |||||||||||||||||||||
| 内容記述 | At-speed scan testing is susceptible to yield loss risk due to power supply noise caused by excessive launch switching activity. This paper proposes a novel two-stage scheme, namely CTX (Clock-Gating-Based Test Relaxation and X-Filling), for reducing switching activity when test stimulus is launched. Test relaxation and X-filling are conducted (1) to make as many FFs inactive as possible by disabling corresponding clock-control signals of clock-gating circuitry in Stage-1 (Clock-Disabling), and (2) to make as many remaining active FFs as possible to have equal input and output values in Stage-2 (FF-Silencing). CTX effectively reduces launch switching activity, thus yield loss risk, even with a small number of donpsilat care (X) bits as in test compression, without any impact on test data volume, fault coverage, performance, and circuit design. | |||||||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||||||
| 備考 | ||||||||||||||||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||||||||||||||||
| 内容記述 | 2008 17th Asian Test Symposium (ATS 2008), 24-27 November 2008, Sapporo, Japan | |||||||||||||||||||||
| 書誌情報 |
en : 2008 17th Asian Test Symposium p. 397-402, 発行日 2008-12-12 |
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| 出版社 | ||||||||||||||||||||||
| 出版者 | IEEE | |||||||||||||||||||||
| DOI | ||||||||||||||||||||||
| 関連タイプ | isVersionOf | |||||||||||||||||||||
| 識別子タイプ | DOI | |||||||||||||||||||||
| 関連識別子 | https://doi.org/10.1109/ATS.2008.27 | |||||||||||||||||||||
| ISBN | ||||||||||||||||||||||
| 識別子タイプ | ISBN | |||||||||||||||||||||
| 関連識別子 | 978-0-7695-3396-4 | |||||||||||||||||||||
| 日本十進分類法 | ||||||||||||||||||||||
| 主題Scheme | NDC | |||||||||||||||||||||
| 主題 | 548 | |||||||||||||||||||||
| ISSN | ||||||||||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | PISSN | |||||||||||||||||||||
| 収録物識別子 | 1081-7735 | |||||||||||||||||||||
| ISSN | ||||||||||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | EISSN | |||||||||||||||||||||
| 収録物識別子 | 2377-5386 | |||||||||||||||||||||
| 著作権関連情報 | ||||||||||||||||||||||
| 権利情報 | Copyright (c) 2008 IEEE. Personal use of this material is permitted. Permission from IEEE must be obtained for all other uses, in any current or future media, including reprinting/republishing this material for advertising or promotional purposes, creating new collective works, for resale or redistribution to servers or lists, or reuse of any copyrighted component of this work in other works. | |||||||||||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||||||||||
| 主題 | Power Supply Noise | |||||||||||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||||||||||
| 主題 | Test Relaxation | |||||||||||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||||||||||
| 主題 | X-Filling | |||||||||||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||||||||||
| 主題 | Clock-Gating | |||||||||||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||||||||||
| 主題 | Test Compaction | |||||||||||||||||||||
| 出版タイプ | ||||||||||||||||||||||
| 出版タイプ | AM | |||||||||||||||||||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_ab4af688f83e57aa | |||||||||||||||||||||
| 査読の有無 | ||||||||||||||||||||||
| 値 | yes | |||||||||||||||||||||
| 研究者情報 | ||||||||||||||||||||||
| URL | https://hyokadb02.jimu.kyutech.ac.jp/html/300_ja.html | |||||||||||||||||||||
| 論文ID（連携） | ||||||||||||||||||||||
| 値 | 10056680 | |||||||||||||||||||||
| 連携ID | ||||||||||||||||||||||
| 値 | 8092 | |||||||||||||||||||||
