WEKO3
アイテム / A GA-Based Method for High-Quality X-Filling to Reduce Launch Switching Activity in At-speed Scan Testing / 10056691
10056691
ファイル | ライセンス |
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10056691.pdf (542.4 kB) sha256 94d37b2a11eab9c564b0aa215296ad05512f824f5420ea8727f636308574f1c1 |
公開日 | 2020-02-05 | |||||
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ファイル名 | 10056691.pdf | |||||
本文URL | https://kyutech.repo.nii.ac.jp/record/6387/files/10056691.pdf | |||||
ラベル | 10056691.pdf | |||||
フォーマット | application/pdf | |||||
サイズ | 542.4 kB |
Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/Hide |
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