WEKO3
アイテム
Scan Chain Grouping for Mitigating IR-Drop-Induced Test Data Corruption
http://hdl.handle.net/10228/00007603
http://hdl.handle.net/10228/00007603630083a5-1a9e-4cc1-a282-d50797df786b
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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10318637.pdf (435.3 kB)
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| アイテムタイプ | 学術雑誌論文 = Journal Article(1) | |||||||||||||
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| 公開日 | 2020-02-06 | |||||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||||||||||
| 資源タイプ | journal article | |||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||
| タイトル | Scan Chain Grouping for Mitigating IR-Drop-Induced Test Data Corruption | |||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||
| 言語 | ||||||||||||||
| 言語 | eng | |||||||||||||
| 著者 |
Zhang, Yucong
× Zhang, Yucong× ホルスト, シュテファン× 温, 暁青× 宮瀬, 紘平
WEKO
6567
× 梶原, 誠司× Qianz, Jun |
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| 抄録 | ||||||||||||||
| 内容記述タイプ | Abstract | |||||||||||||
| 内容記述 | Loading and unloading test patterns during scan testing causes many scan flip-flops to trigger simultaneously. This instantaneous switching activity during shift in turn may cause excessive IR-drop that can disrupt the states of some scan flip-flops and corrupt test stimuli or responses. A common design technique to even out these instantaneous power surges is to design multiple scan chains and shift only a group of the scan chains at a same time. This paper introduces a novel algorithm to optimally group scan chains so as to minimize the probability of test data corruption caused by excessive instantaneous IR-drop on scan flip-flops. The experiments show optimal results on all large ITC'99 benchmark circuits. | |||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||
| 備考 | ||||||||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||||||||
| 内容記述 | 2017 IEEE 26th Asian Test Symposium (ATS), 27-30 November 2017, Taipei, Taiwan | |||||||||||||
| 書誌情報 |
en : 2017 IEEE 26th Asian Test Symposium (ATS) 発行日 2018-01-25 |
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| 出版社 | ||||||||||||||
| 出版者 | IEEE | |||||||||||||
| DOI | ||||||||||||||
| 関連タイプ | isVersionOf | |||||||||||||
| 識別子タイプ | DOI | |||||||||||||
| 関連識別子 | https://doi.org/10.1109/ATS.2017.37 | |||||||||||||
| ISBN | ||||||||||||||
| 識別子タイプ | ISBN | |||||||||||||
| 関連識別子 | 978-1-5386-2437-1 | |||||||||||||
| ISBN | ||||||||||||||
| 識別子タイプ | ISBN | |||||||||||||
| 関連識別子 | 978-1-5386-2436-4 | |||||||||||||
| ISBN | ||||||||||||||
| 識別子タイプ | ISBN | |||||||||||||
| 関連識別子 | 978-1-5386-3516-2 | |||||||||||||
| ISSN | ||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | EISSN | |||||||||||||
| 収録物識別子 | 2377-5386 | |||||||||||||
| 著作権関連情報 | ||||||||||||||
| 権利情報 | Copyright (c) 2017 IEEE. Personal use of this material is permitted. Permission from IEEE must be obtained for all other uses, in any current or future media, including reprinting/republishing this material for advertising or promotional purposes, creating new collective works, for resale or redistribution to servers or lists, or reuse of any copyrighted component of this work in other works. | |||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||
| 主題 | scan testing | |||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||
| 主題 | switching activity | |||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||
| 主題 | IR-drop | |||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||
| 主題 | shiftfailure | |||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||
| 主題 | shift-power mitigation | |||||||||||||
| 出版タイプ | ||||||||||||||
| 出版タイプ | AM | |||||||||||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_ab4af688f83e57aa | |||||||||||||
| 査読の有無 | ||||||||||||||
| 値 | yes | |||||||||||||
| 研究者情報 | ||||||||||||||
| URL | https://hyokadb02.jimu.kyutech.ac.jp/html/300_ja.html | |||||||||||||
| 論文ID（連携） | ||||||||||||||
| 値 | 10318637 | |||||||||||||
| 連携ID | ||||||||||||||
| 値 | 8111 | |||||||||||||
