WEKO3
アイテム
Infrared image correlation for thermal stress analysis of power devices
http://hdl.handle.net/10228/00008478
http://hdl.handle.net/10228/00008478cc5d7d95-5825-4907-9457-7ef4fe682e75
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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| Item type | 学術雑誌論文 = Journal Article(1) | |||||||||||||||||||||
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| 公開日 | 2021-09-24 | |||||||||||||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||||||||||||||||||
| 資源タイプ | journal article | |||||||||||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||||||||||
| タイトル | Infrared image correlation for thermal stress analysis of power devices | |||||||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||||||
| 言語 | ||||||||||||||||||||||
| 言語 | eng | |||||||||||||||||||||
| 著者 |
渡邉, 晃彦
× 渡邉, 晃彦
WEKO
16333
× Masuda, Yoshiki× 大村, 一郎
WEKO
16176
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| 抄録 | ||||||||||||||||||||||
| 内容記述タイプ | Abstract | |||||||||||||||||||||
| 内容記述 | Thermal stress analysis is indispensable to improve the reliability of power devices. We propose a technique to observe a temperature distribution and a thermal strain simultaneously for thermal stress analysis of power devices. A temperature distribution is measured by an infrared (IR) camera and a thermal strain is measured by a digital image correlation (DIC) with IR images under a power cycling test. To apply DIC to IR images, we propose techniques to make a random pattern on the surface which can be recognized by IR camera even if a surface temperature is changed. This technique realises an observation with completely same field of view even in a localized area on power devices. This method provides an experimental means to verify simulation results of thermal stress analysis. | |||||||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||||||
| 書誌情報 |
en : Microelectronics Reliability 巻 100-101, p. 113414-1-113414-4, 発行日 2019-09-23 |
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| 出版社 | ||||||||||||||||||||||
| 出版者 | Elsevier | |||||||||||||||||||||
| DOI | ||||||||||||||||||||||
| 関連タイプ | isVersionOf | |||||||||||||||||||||
| 識別子タイプ | DOI | |||||||||||||||||||||
| 関連識別子 | https://doi.org/10.1016/j.microrel.2019.113414 | |||||||||||||||||||||
| 日本十進分類法 | ||||||||||||||||||||||
| 主題Scheme | NDC | |||||||||||||||||||||
| 主題 | 549 | |||||||||||||||||||||
| ISSN | ||||||||||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | PISSN | |||||||||||||||||||||
| 収録物識別子 | 0026-2714 | |||||||||||||||||||||
| ISSN | ||||||||||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | EISSN | |||||||||||||||||||||
| 収録物識別子 | 1872-941X | |||||||||||||||||||||
| 著作権関連情報 | ||||||||||||||||||||||
| 権利情報 | Copyright (c) 2019 Elsevier Ltd. All rights reserved. | |||||||||||||||||||||
| 出版タイプ | ||||||||||||||||||||||
| 出版タイプ | AM | |||||||||||||||||||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_ab4af688f83e57aa | |||||||||||||||||||||
| 査読の有無 | ||||||||||||||||||||||
| 値 | yes | |||||||||||||||||||||
| 連携ID | ||||||||||||||||||||||
| 値 | 8018 | |||||||||||||||||||||