WEKO3
アイテム
Altitude dependent failure rate calculation for high power semiconductor devices in aviation electronics
http://hdl.handle.net/10228/00008803
http://hdl.handle.net/10228/00008803f7ad6ad2-ff2a-496d-b106-e55930118917
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
nperc178.pdf (1.8 MB)
|
|
| アイテムタイプ | 学術雑誌論文 = Journal Article(1) | |||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2022-04-14 | |||||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||||||||||
| 資源タイプ | journal article | |||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||
| タイトル | Altitude dependent failure rate calculation for high power semiconductor devices in aviation electronics | |||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||
| 言語 | ||||||||||||||
| 言語 | eng | |||||||||||||
| 著者 |
Gollapudi, Srikanth
× Gollapudi, Srikanth× 大村, 一郎
WEKO
16176
|
|||||||||||||
| 抄録 | ||||||||||||||
| 内容記述タイプ | Abstract | |||||||||||||
| 内容記述 | The electric power usage in aircraft has reached 1 MW. Therefore, use of high power semiconductor devices expected to increase in avionics. Single event burnout failure happens when power devices operating in blocking condition interact with the cosmic radiation. The failure rate in power devices is more in airplane altitude compare to terrestrial operation. In this paper, the failure rate of high power silicon PiN diode is evaluated when operating in airplane altitude due to the interaction of cosmic ray neutrons. The proposed formula has the unique feature of decoupling between failure cross section and cosmic ray neutron flux. This makes it possible to calculate the failure rate under any cosmic radiation environment using the proposed failure rate formulation. | |||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||
| 書誌情報 |
en : Japanese Journal of Applied Physics 巻 60, 号 SB, p. SBBD19-1-SBBD19-7, 発行日 2021-04-13 |
|||||||||||||
| 出版社 | ||||||||||||||
| 出版者 | 応用物理学会 | |||||||||||||
| 言語 | ja | |||||||||||||
| DOI | ||||||||||||||
| 関連タイプ | isVersionOf | |||||||||||||
| 識別子タイプ | DOI | |||||||||||||
| 関連識別子 | https://doi.org/10.35848/1347-4065/abebc0 | |||||||||||||
| 日本十進分類法 | ||||||||||||||
| 主題Scheme | NDC | |||||||||||||
| 主題 | 549 | |||||||||||||
| NCID | ||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||||||||
| 収録物識別子 | AA12295836 | |||||||||||||
| ISSN | ||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | PISSN | |||||||||||||
| 収録物識別子 | 0021-4922 | |||||||||||||
| ISSN | ||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | EISSN | |||||||||||||
| 収録物識別子 | 1347-4065 | |||||||||||||
| 著作権関連情報 | ||||||||||||||
| 権利情報 | Copyright (c) 2021 The Japan Society of Applied Physics | |||||||||||||
| 出版タイプ | ||||||||||||||
| 出版タイプ | AM | |||||||||||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_ab4af688f83e57aa | |||||||||||||
| 査読の有無 | ||||||||||||||
| 値 | yes | |||||||||||||
| 連携ID | ||||||||||||||
| 値 | 9007 | |||||||||||||
