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  1. 学術雑誌論文
  2. 5 技術(工学)

パワーサイクル試験のDUT温度係数依存性

http://hdl.handle.net/10228/00008824
http://hdl.handle.net/10228/00008824
612409a5-9177-4ede-818a-2bb14f6e3b99
名前 / ファイル ライセンス アクション
nperc198.pdf nperc198.pdf (722.1 kB)
アイテムタイプ 学術雑誌論文 = Journal Article(1)
公開日 2022-04-26
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ journal article
タイトル
タイトル パワーサイクル試験のDUT温度係数依存性
言語 ja
言語
言語 jpn
著者 秋元, 健志

× 秋元, 健志

WEKO 32957

ja 秋元, 健志

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大村, 一郎

× 大村, 一郎

WEKO 16176
e-Rad 10510670
Scopus著者ID 7003814580
九工大研究者情報 69

en Omura, Ichiro

ja 大村, 一郎

ja-Kana オオムラ, イチロウ


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抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 パワーサイクル試験はパワー半導体の信頼性試験法の一つである。試験デバイス(DUT: Device Under Test)に対して大きな熱ストレスを通電・遮断により印加し短期間でパワー半導体の寿命を評価する加速試験である。しかし、近年パワーサイクル試験結果の妥当性を疑う報告がなされた。すわなち、DUTの発熱方法を変化させると熱ストレス条件を統一しても試験結果に差が出る事が報告された。本研究ではパワー半導体導通時発熱の温度係数に着目し、異なる温度係数のDUTに対してパワーサイクル試験を実施した。その結果、高い温度係数をもつDUTでは、故障までのサイクル数が著しく少なくなることが分かった。また、サイクル数の少なかったDUTを試験後に分析した結果、電流集中によると思われる破壊痕が確認され、局所的な温度上昇がサイクル数に影響を及ぼしたと考えられる。以上より、パワーサイクル試験結果の解析ではDUTの温度係数についても考慮する必要がある。
言語 ja
備考
内容記述タイプ Other
内容記述 電子通信エネルギー技術研究会(EE), 2022年1月27日-28日, オンライン
書誌情報 ja : 電子情報通信学会技術研究報告. EE, 電子通信エネルギー技術

巻 121, 号 359, p. 96-99, 発行日 2022-01-20
出版社
出版者 電子情報通信学会
言語 ja
URI
識別子タイプ URI
関連識別子 https://www.ieice.org/ken/paper/20220128kC7H/
CRID
関連タイプ isIdenticalTo
識別子タイプ URI
関連識別子 https://cir.nii.ac.jp/crid/1050291932748801920
日本十進分類法
主題Scheme NDC
主題 549
NCID
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AA11135980
ISSN
収録物識別子タイプ EISSN
収録物識別子 2432-6380
ISSN
収録物識別子タイプ PISSN
収録物識別子 0913-5685
著作権関連情報
権利情報 Copyright (c) 2022 by IEICE
キーワード
主題Scheme Other
主題 パワーサイクル試験
キーワード
主題Scheme Other
主題 温度係数
キーワード
主題Scheme Other
主題 熱暴走
キーワード
主題Scheme Other
主題 リフトオフ
出版タイプ
出版タイプ AM
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_ab4af688f83e57aa
査読の有無
値 no
連携ID
値 10341
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Ver.1 2023-05-15 13:00:35.504976
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