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  1. 学術雑誌論文
  2. 4 自然科学

Structural and thermoelectric properties of fine-grained Bi0.4Te3.0Sb1.6 thin films with preferred orientation deposited by flash evaporation method

http://hdl.handle.net/10228/1119
http://hdl.handle.net/10228/1119
c18758c3-bbeb-436d-af20-57e3a285ed59
名前 / ファイル ライセンス アクション
TSFVol516_6336.pdf TSFVol516_6336.pdf (1.1 MB)
アイテムタイプ 学術雑誌論文 = Journal Article(1)
公開日 2008-08-21
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ journal article
タイトル
タイトル Structural and thermoelectric properties of fine-grained Bi0.4Te3.0Sb1.6 thin films with preferred orientation deposited by flash evaporation method
言語 en
言語
言語 eng
著者 Takashiri, M

× Takashiri, M

WEKO 3476

en Takashiri, M

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宮崎, 康次

× 宮崎, 康次

WEKO 679
e-Rad 70315159
Scopus著者ID 7403193768
ORCiD 0000-0001-6002-343X

ja 宮崎, 康次

en Miyazaki, Koji

ja-Kana ミヤザキ, コウジ


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塚本, 寛

× 塚本, 寛

WEKO 673
e-Rad 50117305

en Tsukamoto, Hiroshi

ja 塚本, 寛

ja-Kana ツカモト, ヒロシ


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抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 Structural and thermoelectric properties of p-type fine-grained Bi0.4Te3.0Sb1.6 thin filmsare investigated. The films are deposited by a flash evaporation method and exhibit apreferred orientation in the c-axis direction. By optimizing deposition conditions, weachieve thin films with clean surfaces. Then, in order to enhance the crystallinity withpreferred orientation and the thermoelectric properties of the thin films, they are annealedin hydrogen ambient at atmospheric pressure and temperatures ranging from 200 to 350 oC.The cross-sectional microstructure and crystallinity of the thin films are investigated byscanning electron microscopy and x-ray diffraction, respectively. The electricalconductivity, Seebeck coefficient, and thermoelectric power factor are measured at roomtemperature. We confirm that the grain growth and the crystallization along the c-axis areenhanced as the annealing temperature increases. The highest performance of p-typeBi0.4Te3.0Sb1.6 thin films observed in this study have an annealing temperature of 300 oC,resulting in a thermoelectric power factor of 34.9μW cm-1 K-2 at the average grain size of88 nm. We consider that the synthesis conditions reduce the number of potentialscattering sites at grain boundaries and defects, thus improving the thermoelectric powerfactor.
書誌情報 Thin Solid Films

巻 516, 号 18, p. 6336-6343, 発行日 2008-07-31
出版社
出版者 Elsevier
DOI
関連タイプ isVersionOf
識別子タイプ DOI
関連識別子 https://doi.org/10.1016/j.tsf.2007.12.130
NAID
関連タイプ isVersionOf
識別子タイプ NAID
関連識別子 120002440991
日本十進分類法
主題Scheme NDC
主題 431
ISSN
収録物識別子タイプ PISSN
収録物識別子 0040-6090
著作権関連情報
権利情報 Copyright © 2007 Elsevier B.V.
キーワード
主題Scheme Other
主題 Thermoelectric
キーワード
主題Scheme Other
主題 Flash evaporation
キーワード
主題Scheme Other
主題 Fine-grained thin film
キーワード
主題Scheme Other
主題 Preferred orientation
出版タイプ
出版タイプ AM
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_ab4af688f83e57aa
査読の有無
値 yes
研究者情報
URL https://hyokadb02.jimu.kyutech.ac.jp/html/26_ja.html
連携ID
値 54
業績ID
値 8D8D1AA9882E0FB449257481002F5B8E
情報源
識別子タイプ URI
関連識別子 http://www.sciencedirect.com/science/journal/00406090
関連名称 http://www.sciencedirect.com/science/journal/00406090
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Ver.1 2023-05-15 13:46:45.147108
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