WEKO3
アイテム
大電力用半導体デバイスの宇宙線故障率計算手法
http://hdl.handle.net/10228/00008883
http://hdl.handle.net/10228/00008883fcb82451-1af8-40c8-90ad-8d873b26e632
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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sei_kou_428.pdf (222.5 kB)
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| アイテムタイプ | 学位論文 = Thesis or Dissertation(1) | |||||||
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| 公開日 | 2022-06-06 | |||||||
| 資源タイプ | ||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_46ec | |||||||
| 資源タイプ | thesis | |||||||
| タイトル | ||||||||
| タイトル | A universal failure rate calculation method for single event burnout in high power semiconductor devices | |||||||
| 言語 | en | |||||||
| タイトル | ||||||||
| タイトル | 大電力用半導体デバイスの宇宙線故障率計算手法 | |||||||
| 言語 | ja | |||||||
| 言語 | ||||||||
| 言語 | jpn | |||||||
| 著者 |
Gollapudi, Srikanth
× Gollapudi, Srikanth
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| 備考 | ||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||
| 内容記述 | 九州工業大学博士学位論文（要旨）学位記番号：生工博甲第428号 学位授与年月日：令和4年3月25日 | |||||||
| 学位授与番号 | ||||||||
| 学位授与番号 | 甲第428号 | |||||||
| 学位授与年月日 | ||||||||
| 学位授与年月日 | 2022-03-25 | |||||||
| 学位授与機関 | ||||||||
| 学位授与機関識別子Scheme | kakenhi | |||||||
| 学位授与機関識別子 | 17104 | |||||||
| 学位授与機関名 | 九州工業大学 | |||||||
| 出版タイプ | ||||||||
| 出版タイプ | NA | |||||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_be7fb7dd8ff6fe43 | |||||||
| 著者所属 | ||||||||
| 九州工業大学大学院生命体工学研究科 | ||||||||
