WEKO3
アイテム / A universal failure rate calculation method for single event burnout in high power semiconductor devices / sei_k_428
sei_k_428
ファイル | ライセンス |
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sei_k_428.pdf (3.9 MB) sha256 a07edc281ec064696cef92b1562a38e1b81a7581398f387e1014b13292de699c |
公開日 | 2022-06-14 | |||||
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ファイル名 | sei_k_428.pdf | |||||
本文URL | https://kyutech.repo.nii.ac.jp/record/7708/files/sei_k_428.pdf | |||||
ラベル | sei_k_428.pdf | |||||
オブジェクトタイプ | fulltext | |||||
フォーマット | application/pdf | |||||
サイズ | 3.9 MB |
Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/Hide |
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