WEKO3
アイテム / A universal failure rate calculation method for single event burnout in high power semiconductor devices / sei_k_428
sei_k_428
| ファイル | ライセンス |
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 sei_k_428.pdf (3.9 MB)
sha256
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| 公開日 | 2022-06-14 | |||||
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| ファイル名 | sei_k_428.pdf | |||||
| 本文URL | https://kyutech.repo.nii.ac.jp/record/7708/files/sei_k_428.pdf | |||||
| ラベル | sei_k_428.pdf | |||||
| オブジェクトタイプ | fulltext | |||||
| フォーマット | application/pdf | |||||
| サイズ | 3.9 MB | |||||
| Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/Hide |
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