WEKO3
アイテム / Low Capture Switching Activity Test Generation for Reducing IR-Drop in At-Speed Scan Testing / Low_capture
Low_capture
ファイル | ライセンス |
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Low_capture.pdf (185.8 kB) sha256 70804c6bd900e47161af8d69b8c936d72de6d5dbf3464cf160d81e4358276d07 |
公開日 | 2009-09-09 | |||||
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ファイル名 | Low_capture.pdf | |||||
本文URL | https://kyutech.repo.nii.ac.jp/record/1628/files/Low_capture.pdf | |||||
ラベル | Low_capture.pdf | |||||
フォーマット | application/pdf | |||||
サイズ | 185.8 kB |
Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/Hide |
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