WEKO3
アイテム / Numerical Study of 4H-SiC PiN Diode to Enable Forward Bias Degradation Prediction Considering BPD-TED Conversion Position in the SiC Epitaxial Wafer / nperc130
nperc130
ファイル | ライセンス |
---|---|
nperc130.pdf (855.1 kB) sha256 56c28dafd47dd1204500e9680c783e6aba562fa67b7dd28ca053974b9aa39a07 |
公開日 | 2020-01-06 | |||||
---|---|---|---|---|---|---|
ファイル名 | nperc130.pdf | |||||
本文URL | https://kyutech.repo.nii.ac.jp/record/6295/files/nperc130.pdf | |||||
ラベル | nperc130.pdf | |||||
フォーマット | application/pdf | |||||
サイズ | 855.1 kB |
Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/Hide |
---|