WEKO3
アイテム / On Flip-Flop Selection for Multi-cycle Scan Test with Partial Observation in Logic BIST / ATS
ATS
ファイル | ライセンス |
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ATS.2018.00017.pdf (432.3 kB) sha256 178d25b38dc5de4aab4c2dd6c34ac7a298cea16e3a0fb39da84e1fdb503280eb |
公開日 | 2020-01-09 | |||||
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ファイル名 | ATS.2018.00017.pdf | |||||
本文URL | https://kyutech.repo.nii.ac.jp/record/6307/files/ATS.2018.00017.pdf | |||||
ラベル | ATS.2018.00017.pdf | |||||
フォーマット | application/pdf | |||||
サイズ | 432.3 kB |
Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/Hide |
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