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  1. 学術雑誌論文
  2. 5 技術(工学)

A novel scan segmentation design method for avoiding shift timing failure in scan testing

http://hdl.handle.net/10228/00007594
http://hdl.handle.net/10228/00007594
dce90eba-78c7-466d-a770-f76b43040e08
名前 / ファイル ライセンス アクション
10232922.pdf 10232922.pdf (927.8 kB)
アイテムタイプ 学術雑誌論文 = Journal Article(1)
公開日 2020-02-04
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ journal article
タイトル
タイトル A novel scan segmentation design method for avoiding shift timing failure in scan testing
言語 en
その他のタイトル
その他のタイトル A Novel Scan Segmentation Design Method for Avoiding Shift Timing Failure in Scan Testing
言語 en
言語
言語 eng
著者 Yamato, Yuta

× Yamato, Yuta

WEKO 26670

en Yamato, Yuta
Yamato, Y.

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温, 暁青

× 温, 暁青

WEKO 1143
e-Rad 20250897
Scopus著者ID 7201738030
九工大研究者情報 300

en Wen, Xiaoqing

ja 温, 暁青


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Kochte, Michael A.

× Kochte, Michael A.

WEKO 26672

en Kochte, Michael A.
Kochte, M. A.

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宮瀬, 紘平

× 宮瀬, 紘平

WEKO 6567
e-Rad 30452824
Scopus著者ID 6507979281
九工大研究者情報 219

en Miyase, Kohei

ja 宮瀬, 紘平

ja-Kana ミヤセ, コウヘイ


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梶原, 誠司

× 梶原, 誠司

WEKO 1147
e-Rad 80252592
Scopus著者ID 7005061314

ja 梶原, 誠司

en Kajihara, Seiji

ja-Kana カジハラ, セイジ


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Wang, Laung-Terng

× Wang, Laung-Terng

WEKO 26675

en Wang, Laung-Terng
Wang, L.-T.

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抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 High power consumption in scan testing can cause undue yield loss which has increasingly become a serious problem for deep-submicron VLSI circuits. Growing evidence attributes this problem to shift timing failures, which are primarily caused by excessive switching activity in the proximities of clock paths that tends to introduce severe clock skew due to IR-drop-induced delay increase. This paper is the first of its kind to address this critical issue with a novel layout-aware scheme based on scan segmentation design, called LCTI-SS (Low-Clock-Tree-Impact Scan Segmentation). An optimal combination of scan segments is identified for simultaneous clocking so that the switching activity in the proximities of clock trees is reduced while maintaining the average power reduction effect on conventional scan segmentation. Experimental results on benchmark and industrial circuits have demonstrated the advantage of the LCTI-SS scheme.
言語 en
備考
内容記述タイプ Other
内容記述 2011 IEEE International Test Conference, 20-22 September 2011, Anaheim, CA, USA
書誌情報 en : 2011 IEEE International Test Conference

発行日 2012-01-26
出版社
出版者 IEEE
DOI
関連タイプ isVersionOf
識別子タイプ DOI
関連識別子 https://doi.org/10.1109/TEST.2011.6139162
ISBN
識別子タイプ ISBN
関連識別子 978-1-4577-0153-5
ISBN
識別子タイプ ISBN
関連識別子 978-1-4577-0152-8
ISBN
識別子タイプ ISBN
関連識別子 978-1-4577-0151-1
日本十進分類法
主題Scheme NDC
主題 548
ISSN
収録物識別子タイプ PISSN
収録物識別子 1089-3539
ISSN
収録物識別子タイプ EISSN
収録物識別子 2378-2250
著作権関連情報
権利情報 Copyright (c) 2011 IEEE. Personal use of this material is permitted. Permission from IEEE must be obtained for all other uses, in any current or future media, including reprinting/republishing this material for advertising or promotional purposes, creating new collective works, for resale or redistribution to servers or lists, or reuse of any copyrighted component of this work in other works.
キーワード
主題Scheme Other
主題 scan testing
キーワード
主題Scheme Other
主題 shift power reduction
キーワード
主題Scheme Other
主題 scan segmentation
キーワード
主題Scheme Other
主題 switching activity
キーワード
主題Scheme Other
主題 clock tree
キーワード
主題Scheme Other
主題 clock skew
出版タイプ
出版タイプ AM
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_ab4af688f83e57aa
査読の有無
値 yes
研究者情報
URL https://hyokadb02.jimu.kyutech.ac.jp/html/300_ja.html
論文ID(連携)
値 10232922
連携ID
値 8104
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Ver.1 2023-05-15 14:05:55.429084
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