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  1. 学術雑誌論文
  2. 4 自然科学

Effect of grain size on thermoelectric properties of n-type nanocrystalline bismuth-telluride based thin films

http://hdl.handle.net/10228/1205
http://hdl.handle.net/10228/1205
7bbf2b7e-f6b4-426e-b054-66a508961d8f
名前 / ファイル ライセンス アクション
1.2990774.pdf 1.2990774.pdf (606.0 kB)
Item type 学術雑誌論文 = Journal Article(1)
公開日 2008-11-04
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ journal article
タイトル
タイトル Effect of grain size on thermoelectric properties of n-type nanocrystalline bismuth-telluride based thin films
言語 en
言語
言語 eng
著者 Takashiri, M

× Takashiri, M

WEKO 3634

en Takashiri, M

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宮崎, 康次

× 宮崎, 康次

WEKO 679
e-Rad 70315159
Scopus著者ID 7403193768
ORCiD 0000-0001-6002-343X

ja 宮崎, 康次

en Miyazaki, Koji

ja-Kana ミヤザキ, コウジ


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Tanaka, S

× Tanaka, S

WEKO 3636

en Tanaka, S

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Kurosaki, J

× Kurosaki, J

WEKO 3637

en Kurosaki, J

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Nagai, D

× Nagai, D

WEKO 3638

en Nagai, D

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塚本, 寛

× 塚本, 寛

WEKO 673
e-Rad 50117305

en Tsukamoto, Hiroshi

ja 塚本, 寛

ja-Kana ツカモト, ヒロシ


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抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 The effect of grain size on the thermoelectric properties of n-type nanocrystalline bismuth-telluridebased thin films is investigated. We prepare the nanocrystalline thin films with average grain sizesof 10, 27, and 60 nm by a flash-evaporation method followed by a hydrogen annealing process. Thethermoelectric properties, in terms of the thermal conductivity by a differential 3 method, theelectrical conductivity, and the Seebeck coefficient are measured at room temperature and used toevaluate the figure of merit. The minimum thermal conductivity is 0.61 W m−1 K−1 at the averagegrain size of 10 nm. We also estimate the lattice thermal conductivity of the nanocrystalline thinfilms and compare it with a simplified theory of phonon scattering on grain boundaries. Fornanosized grains, the lattice thermal conductivity of nanocrystalline thin films decreases rapidly forsmaller grains, corresponding to the theoretical calculation. The figure of merit is also decreased asthe grain size decreases, which is attributed to the increased number of defects at the grainboundaries.
言語 en
書誌情報 en : Journal of Applied Physics

巻 104, 号 8, p. 084302-1-084302-6, 発行日 2008-10-15
出版社
出版者 American Institute of Physics
言語 en
DOI
関連タイプ isIdenticalTo
識別子タイプ DOI
関連識別子 https://doi.org/10.1063/1.2990774
CRID
関連タイプ isIdenticalTo
識別子タイプ URI
関連識別子 https://cir.nii.ac.jp/crid/1050564288863207680
日本十進分類法
主題Scheme NDC
主題 431
NCID
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AA00693547
ISSN
収録物識別子タイプ EISSN
収録物識別子 1089-7550
ISSN
収録物識別子タイプ PISSN
収録物識別子 0021-8979
著作権関連情報
権利情報 Copyright © 2008 American Institute of Physics
出版タイプ
出版タイプ VoR
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
査読の有無
値 yes
研究者情報
URL https://hyokadb02.jimu.kyutech.ac.jp/html/546_ja.html
連携ID
値 80
業績ID
値 E1D738413AFE4FFF492574F70018EF9D
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Ver.1 2023-05-15 13:51:56.095872
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