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  1. 学術雑誌論文
  2. 5 技術(工学)

Electroluminescence efficiency of blue InGaN/GaN quantum-well diodes with and without an n-InGaN electron reservoir layer

http://hdl.handle.net/10228/535
http://hdl.handle.net/10228/535
6dcbedc8-9331-473b-a472-22cbf8fca79f
名前 / ファイル ライセンス アクション
1.2398690.pdf 1.2398690.pdf (501.2 kB)
アイテムタイプ 学術雑誌論文 = Journal Article(1)
公開日 2007-12-20
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ journal article
タイトル
タイトル Electroluminescence efficiency of blue InGaN/GaN quantum-well diodes with and without an n-InGaN electron reservoir layer
言語 en
言語
言語 eng
著者 Otsuji, N

× Otsuji, N

WEKO 1441

en Otsuji, N

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藤原, 賢三

× 藤原, 賢三

WEKO 1138
e-Rad 90243980
Scopus著者ID 7403468236

en Fujiwara, Kenzo

ja 藤原, 賢三

ja-Kana フジワラ, ケンゾウ


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Sheu, J.K.

× Sheu, J.K.

WEKO 1443

en Sheu, J.K.

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抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 The temperature dependence of the electroluminescence (EL) spectral intensity has been investigated in detail between T=20 and 300 K at various injection current levels for a set of two blue InGaN/GaN multiple-quantum-well (MQW) light-emitting diodes (LEDs) with and without an additional n-doped In0.18Ga0.82N electron reservoir layer (ERL). The radiative recombination efficiency of the main blue emission band (~480 nm) is found to be significantly improved at all temperature regions and current levels when the additional ERL is introduced. For high injection currents If, i.e., large forward bias voltages Vf, a quenching of the EL intensity is observed for T<100 K for both LED structures, accompanying appearance of short-wavelength satellite emissions around 380–430 nm. Furthermore, the low-temperature intensity reduction of the main EL band is stronger for the LED without the ERL than with the ERL. For low If, i.e., small Vf, however, no quenching of the EL intensity is observed for both LEDs even below 100 K and the short-wavelength satellite emissions are significantly reduced. These results of the main blue emission and the short-wavelength satellite bands imply that the unusual evolution of the EL intensity with temperature and current is caused by variations of the actual potential field distribution due to both internal and external fields. They significantly influence the carrier capture efficiency by radiative recombination centers within the active MQW layer and the carrier escape out of the active regions into high-energy recombination centers responsible for the short-wavelength satellite emissions.
書誌情報 Journal of Applied Physics

巻 100, 号 11, p. 113105-1-113105-7, 発行日 2006-12-05
出版社
出版者 American Institute of Physics
DOI
関連タイプ isIdenticalTo
識別子タイプ DOI
関連識別子 https://doi.org/10.1063/1.2398690
NAID
関連タイプ isIdenticalTo
識別子タイプ NAID
関連識別子 120002440717
日本十進分類法
主題Scheme NDC
主題 549
NCID
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AA00693547
ISSN
収録物識別子タイプ PISSN
収録物識別子 0021-8979
著作権関連情報
権利情報 Copyright © 2006 American Institute of Physics. The following article has been submitted to/accepted by Journal of Applied Physics. After it is published, it will be found at https://aip.scitation.org/journal/jap.
キーワード
主題Scheme Other
主題 indium compounds
キーワード
主題Scheme Other
主題 wide band gap semiconductors
キーワード
主題Scheme Other
主題 gallium compounds
キーワード
主題Scheme Other
主題 III-V semiconductors
キーワード
主題Scheme Other
主題 light emitting diodes
キーワード
主題Scheme Other
主題 electroluminescence
キーワード
主題Scheme Other
主題 radiation quenching
キーワード
主題Scheme Other
主題 quantum well devices
キーワード
主題Scheme Other
主題 semiconductor quantum wells
出版タイプ
出版タイプ VoR
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
査読の有無
値 yes
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Ver.1 2023-05-15 13:07:38.345763
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