WEKO3
アイテム
次世代ＬＳＩのための信号劣化回避型テスト方式に関する研究
http://hdl.handle.net/10228/4707
http://hdl.handle.net/10228/47072737280a-c64e-4aad-8d36-78435adeeea3
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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19500047seika.pdf (234.1 kB)
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| アイテムタイプ | 研究報告書 = Research Paper(1) | |||||||||||
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| 公開日 | 2010-11-11 | |||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_18ws | |||||||||||
| 資源タイプ | research report | |||||||||||
| タイトル | ||||||||||||
| タイトル | 次世代ＬＳＩのための信号劣化回避型テスト方式に関する研究 | |||||||||||
| 言語 | ja | |||||||||||
| タイトル | ||||||||||||
| タイトル | Research on Advanced VLSI Test for Avoiding Signal Degradation | |||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||
| 言語 | ||||||||||||
| 言語 | jpn | |||||||||||
| 著者 |
温, 暁青
× 温, 暁青
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| 備考 | ||||||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||||||
| 内容記述 | 研究期間：2007～2009, 研究種目：基盤研究（C）, 科学研究費補助金研究成果報告書 | |||||||||||
| 書誌情報 |
発行日 2010-05-18 |
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| 出版社 | ||||||||||||
| 出版者 | 九州工業大学 | |||||||||||
| キーワード | ||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||
| 主題 | LSIテスト | |||||||||||
| キーワード | ||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||
| 主題 | 高信頼化 | |||||||||||
| 出版タイプ | ||||||||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||||||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||||||||
| 査読の有無 | ||||||||||||
| 値 | no | |||||||||||
| 科研課題番号 | ||||||||||||
| 値 | 19500047 | |||||||||||
| 著者所属 | ||||||||||||
| 値 | 九州工業大学情報工学研究院情報創成工学研究系 | |||||||||||
