WEKO3
アイテム
Total electron emission yield measurement of insulator by a scanning small detector
http://hdl.handle.net/10228/00007427
http://hdl.handle.net/10228/00007427f54991ac-f988-4b5f-9cc3-17a551d13294
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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LaSEINE-2011_02.pdf (1.1 MB)
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| アイテムタイプ | 学術雑誌論文 = Journal Article(1) | |||||||||||||||||||
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| 公開日 | 2019-11-12 | |||||||||||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||||||||||||||||
| 資源タイプ | journal article | |||||||||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||||||||
| タイトル | Total electron emission yield measurement of insulator by a scanning small detector | |||||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||||
| 言語 | ||||||||||||||||||||
| 言語 | eng | |||||||||||||||||||
| 著者 |
Chen, Yu
× Chen, Yu× Kouno, Takanori× 豊田, 和弘
WEKO
17484
× 趙, 孟佑
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754
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| 抄録 | ||||||||||||||||||||
| 内容記述タイプ | Abstract | |||||||||||||||||||
| 内容記述 | Due to the injection of primary electrons and the emission of secondary electrons in the surface layer of insulating materials, the target surface will be negatively or positively charged. A method by injecting a single pulse beam and using a small current detector for the total electron emission yield measurement of insulating material is proposed, which can avoid the influence from charged surface. Using the developed system, the total electron emission yield of 25 μm thick polyimide film has been studied, as induced by a single 50 μs pulse of primary electrons with energy up to 2500 eV. | |||||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||||
| 書誌情報 |
en : Applied Physics Letters 巻 99, 号 15, p. 152101-1-152101-3, 発行日 2011-10-10 |
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| 出版社 | ||||||||||||||||||||
| 出版者 | American Institute of Physics | |||||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||||
| DOI | ||||||||||||||||||||
| 関連タイプ | isIdenticalTo | |||||||||||||||||||
| 識別子タイプ | DOI | |||||||||||||||||||
| 関連識別子 | https://doi.org/10.1063/1.3647637 | |||||||||||||||||||
| 日本十進分類法 | ||||||||||||||||||||
| 主題Scheme | NDC | |||||||||||||||||||
| 主題 | 549 | |||||||||||||||||||
| NCID | ||||||||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||||||||||||||
| 収録物識別子 | AA00543431 | |||||||||||||||||||
| ISSN | ||||||||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | PISSN | |||||||||||||||||||
| 収録物識別子 | 0003-6951 | |||||||||||||||||||
| ISSN | ||||||||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | EISSN | |||||||||||||||||||
| 収録物識別子 | 1077-3118 | |||||||||||||||||||
| 著作権関連情報 | ||||||||||||||||||||
| 権利情報 | Copyright (c) 2011 American Institute of Physics. The following article has been submitted to/accepted by Applied Physics Letters. After it is published, it will be found at https://aip.scitation.org/journal/apl. | |||||||||||||||||||
| 出版タイプ | ||||||||||||||||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||||||||||||||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||||||||||||||||
| 査読の有無 | ||||||||||||||||||||
| 値 | yes | |||||||||||||||||||
| 連携ID | ||||||||||||||||||||
| 値 | 7921 | |||||||||||||||||||
