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  1. 学術雑誌論文
  2. 5 技術(工学)

Development of Electron-emitting Film for Spacecraft Charging Mitigation

http://hdl.handle.net/10228/00007486
http://hdl.handle.net/10228/00007486
38f6221b-1c26-4d98-97d6-2012b8654f71
名前 / ファイル ライセンス アクション
LaSEINE-2011_03.pdf LaSEINE-2011_03.pdf (8.5 MB)
アイテムタイプ 学術雑誌論文 = Journal Article(1)
公開日 2019-12-11
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ journal article
タイトル
タイトル Development of Electron-emitting Film for Spacecraft Charging Mitigation
言語 en
言語
言語 eng
著者 岩田, 稔

× 岩田, 稔

WEKO 17575
e-Rad_Researcher 80396762
Scopus著者ID 15750751000
九工大研究者情報 176

en Iwata, Minoru

ja 岩田, 稔

ja-Kana イワタ, ミノル


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Khan, Arifur R.

× Khan, Arifur R.

WEKO 25864

en Khan, Arifur R.

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Igawa, Hideyuki

× Igawa, Hideyuki

WEKO 25865

en Igawa, Hideyuki

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豊田, 和弘

× 豊田, 和弘

WEKO 17484
e-Rad_Researcher 10361411
Scopus著者ID 35281385500
九工大研究者情報 72

en Toyoda, Kazuhiro

ja 豊田, 和弘

ja-Kana トヨダ, カズヒロ


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趙, 孟佑

× 趙, 孟佑

WEKO 754
e-Rad_Researcher 60243333
Scopus著者ID 7401727758
九工大研究者情報 168

ja 趙, 孟佑

en Cho, Mengu


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Fujita, Tatsuhito

× Fujita, Tatsuhito

WEKO 25868

en Fujita, Tatsuhito

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抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 Prevention of spacecraft charging and discharging has become increasingly important as geostationary Earth-orbit satellites employ higher bus voltages. There are numerous mitigation techniques against spacecraft charging, including electron emission from the spacecraft chassis. A new electron emission device operating in a completely passive manner has been developed, which uses the field enhancement at the triple junction where the interface of metal and insulator is exposed to space. It has been named electron-emitting film for spacecraft charging mitigation (ELF’S CHARM). Microetching was applied to polyimide-copper laminated film to manufacture a laboratory prototype. This prototype ELF maintains the emission current at the steady state from the triple junctions instead of leading to arcing. The electric field at the triple junction is macroscopically enhanced by charging the polyimide film and microscopically by dielectric impurities on the copper surface. The laboratory experiments confirmed a stable current emission from 10 to 100μA for 4 hr from a 5-mm square sample having a 500-μm microetching pattern. Recently, the endurance of this ELF design has been confirmed by 100 hr of accumulated emission testing.
言語 en
書誌情報 en : Journal of Spacecraft and Rockets

巻 49, 号 3, p. 546-552, 発行日 2012-05
出版社
出版者 American Institute of Aeronautics and Astronautics
言語 en
DOI
関連タイプ isIdenticalTo
識別子タイプ DOI
関連識別子 https://doi.org/10.2514/1.50735
日本十進分類法
主題Scheme NDC
主題 538
NCID
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AA00707776
ISSN
収録物識別子タイプ PISSN
収録物識別子 0022-4650
ISSN
収録物識別子タイプ EISSN
収録物識別子 1533-6794
著作権関連情報
権利情報 Copyright (c) 2011 by the American Institute of Aeronautics and Astronautics, Inc. All rights reserved.
出版タイプ
出版タイプ VoR
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
査読の有無
値 yes
連携ID
値 7980
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Ver.1 2023-05-15 13:40:19.139644
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