WEKO3
アイテム
A Novel Per-Test Fault Diagnosis Method Based On the Extended X-Fault Model for Deep-Submicron LSI Circuits
http://hdl.handle.net/10228/00007528
http://hdl.handle.net/10228/0000752879a01aa4-fd22-41a7-9c10-4fb414a33a14
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
ietisy_e91-d.3.667.pdf (2.1 MB)
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| アイテムタイプ | 学術雑誌論文 = Journal Article(1) | |||||||||||||
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| 公開日 | 2020-01-15 | |||||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||||||||||
| 資源タイプ | journal article | |||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||
| タイトル | A Novel Per-Test Fault Diagnosis Method Based On the Extended X-Fault Model for Deep-Submicron LSI Circuits | |||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||
| 言語 | ||||||||||||||
| 言語 | eng | |||||||||||||
| 著者 |
Yamato, Yuta
× Yamato, Yuta× Nakamura, Yusuke× 宮瀬, 紘平
WEKO
6567
× 温, 暁青× 梶原, 誠司 |
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| 抄録 | ||||||||||||||
| 内容記述タイプ | Abstract | |||||||||||||
| 内容記述 | Per-test diagnosis based on the X-fault model is an effective approach for a circuit with physical defects of non-deterministic logic behavior. However, the extensive use of vias and buffers in a deep-submicron circuit and the unpredictable order relation among threshold voltages at the fanout branches of a gate have not been fully addressed by conventional per-test X-fault diagnosis. To take these factors into consideration, this paper proposes an improved per-test X-fault diagnosis method, featuring (1) an extended X-fault model to handle vias and buffers and (2) the use of occurrence probabilities of logic behaviors for a physical defect to handle the unpredictable relation among threshold voltages. Experimental results show the effectiveness of the proposed method. | |||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||
| 書誌情報 |
en : IEICE Transactions on Information and Systems 巻 E91.D, 号 3, p. 667-674, 発行日 2008-03-01 |
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| 出版社 | ||||||||||||||
| 出版者 | 電子情報通信学会 | |||||||||||||
| 言語 | ja | |||||||||||||
| DOI | ||||||||||||||
| 関連タイプ | isIdenticalTo | |||||||||||||
| 識別子タイプ | DOI | |||||||||||||
| 関連識別子 | https://doi.org/10.1093/ietisy/e91-d.3.667 | |||||||||||||
| CRID | ||||||||||||||
| 関連タイプ | isIdenticalTo | |||||||||||||
| 識別子タイプ | URI | |||||||||||||
| 関連識別子 | https://cir.nii.ac.jp/crid/1390282679353965696 | |||||||||||||
| NAID | ||||||||||||||
| 関連タイプ | isIdenticalTo | |||||||||||||
| 日本十進分類法 | ||||||||||||||
| 主題Scheme | NDC | |||||||||||||
| 主題 | 549 | |||||||||||||
| NCID | ||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||||||||
| 収録物識別子 | AA10826272 | |||||||||||||
| ISSN | ||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | EISSN | |||||||||||||
| 収録物識別子 | 1745-1361 | |||||||||||||
| ISSN | ||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | PISSN | |||||||||||||
| 収録物識別子 | 0916-8532 | |||||||||||||
| 著作権関連情報 | ||||||||||||||
| 権利情報 | Copyright (c) 2008 The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers | |||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||
| 主題 | fault diagnosis | |||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||
| 主題 | X-fault model | |||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||
| 主題 | per-test | |||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||
| 主題 | via | |||||||||||||
| 出版タイプ | ||||||||||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||||||||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||||||||||
| 査読の有無 | ||||||||||||||
| 値 | yes | |||||||||||||
| 研究者情報 | ||||||||||||||
| URL | https://hyokadb02.jimu.kyutech.ac.jp/html/300_ja.html | |||||||||||||
| 論文ID（連携） | ||||||||||||||
| 値 | 10029820 | |||||||||||||
| 連携ID | ||||||||||||||
| 値 | 8037 | |||||||||||||
