WEKO3
アイテム
A GA-Based X-Filling for Reducing Launch Switching Activity toward Specific Objectives in At-Speed Scan Testing
http://hdl.handle.net/10228/00007531
http://hdl.handle.net/10228/0000753124d44706-95e6-4731-b1ab-7b9a6f4ab2cd
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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transinf.E94.D.833.pdf (1.2 MB)
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| アイテムタイプ | 学術雑誌論文 = Journal Article(1) | |||||||||||||
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| 公開日 | 2020-01-15 | |||||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||||||||||
| 資源タイプ | journal article | |||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||
| タイトル | A GA-Based X-Filling for Reducing Launch Switching Activity toward Specific Objectives in At-Speed Scan Testing | |||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||
| 言語 | ||||||||||||||
| 言語 | eng | |||||||||||||
| 著者 |
Yamato, Yuta
× Yamato, Yuta× 温, 暁青× 宮瀬, 紘平
WEKO
6567
× Furukawa, Hiroshi× 梶原, 誠司 |
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| 抄録 | ||||||||||||||
| 内容記述タイプ | Abstract | |||||||||||||
| 内容記述 | Power-aware X-filling is a preferable approach to avoiding IR-drop-induced yield loss in at-speed scan testing. However, the ability of previous X-filling methods to reduce launch switching activity may be unsatisfactory, due to low effect (insufficient and global-only reduction) and/or low scalability (long CPU time). This paper addresses this reduction quality problem with a novel GA (Genetic Algorithm) based X-filling method, called GA-fill. Its goals are (1) to achieve both effectiveness and scalability in a more balanced manner and (2) to make the reduction effect of launch switching activity more concentrated on critical areas that have higher impact on IR-drop-induced yield loss. Evaluation experiments are being conducted on both benchmark and industrial circuits, and the results have demonstrated the usefulness of GA-fill. | |||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||
| 書誌情報 |
en : IEICE Transactions on Information and Systems 巻 E94.D, 号 4, p. 833-840, 発行日 2011-04-01 |
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| 出版社 | ||||||||||||||
| 出版者 | 電子情報通信学会 | |||||||||||||
| 言語 | ja | |||||||||||||
| DOI | ||||||||||||||
| 関連タイプ | isIdenticalTo | |||||||||||||
| 識別子タイプ | DOI | |||||||||||||
| 関連識別子 | https://doi.org/10.1587/transinf.E94.D.833 | |||||||||||||
| CRID | ||||||||||||||
| 関連タイプ | isIdenticalTo | |||||||||||||
| 識別子タイプ | URI | |||||||||||||
| 関連識別子 | https://cir.nii.ac.jp/crid/1390001204379523072 | |||||||||||||
| NCID | ||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||||||||
| 収録物識別子 | AA10826272 | |||||||||||||
| ISSN | ||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | EISSN | |||||||||||||
| 収録物識別子 | 1745-1361 | |||||||||||||
| ISSN | ||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | PISSN | |||||||||||||
| 収録物識別子 | 0916-8532 | |||||||||||||
| 著作権関連情報 | ||||||||||||||
| 権利情報 | Copyright (c) 2011 The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers | |||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||
| 主題 | X-filling | |||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||
| 主題 | genetic algorithm | |||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||
| 主題 | launch switching activity | |||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||
| 主題 | IR-drop | |||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||
| 主題 | at-speed scan testing | |||||||||||||
| 出版タイプ | ||||||||||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||||||||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||||||||||
| 査読の有無 | ||||||||||||||
| 値 | yes | |||||||||||||
| 研究者情報 | ||||||||||||||
| URL | https://hyokadb02.jimu.kyutech.ac.jp/html/300_ja.html | |||||||||||||
| 論文ID（連携） | ||||||||||||||
| 値 | 10231855 | |||||||||||||
| 連携ID | ||||||||||||||
| 値 | 8040 | |||||||||||||
