WEKO3
アイテム
Efficient Test Set Modification for Capture Power Reduction
http://hdl.handle.net/10228/00007571
http://hdl.handle.net/10228/000075716a290280-0ae7-4c4f-9373-a6b0668b0609
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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10029814.pdf (430.1 kB)
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| アイテムタイプ | 学術雑誌論文 = Journal Article(1) | |||||||||||||
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| 公開日 | 2020-01-28 | |||||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||||||||||
| 資源タイプ | journal article | |||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||
| タイトル | Efficient Test Set Modification for Capture Power Reduction | |||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||
| 言語 | ||||||||||||||
| 言語 | eng | |||||||||||||
| 著者 |
温, 暁青
× 温, 暁青× Suzuki, Tatsuya× 梶原, 誠司× 宮瀬, 紘平
WEKO
6567
× Minamoto, Yoshihiro× Wang, Laung-Terng× Saluja, Kewal K. |
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| 抄録 | ||||||||||||||
| 内容記述タイプ | Abstract | |||||||||||||
| 内容記述 | The occurrence of high switching activity when the response to a test vector is captured by flipflops in scan testing may cause excessive IR drop, resulting in significant test-induced yield loss. This paper addresses the problem with a novel method based on test set modification, featuring (1) a new constrained X-identification technique that turns a properly selected set of bits in a fullyspecified test set into X-bits without fault coverage loss, and (2) a new LCP (low capture power) X-filling technique that optimally assigns 0’s and 1’s to the X-bits for the purpose of reducing the switching activity of the resulting test set in capture mode. This method can be readily applied in any test generation flow for capture power reduction without any impact on area, timing, test set size, and fault coverage. | |||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||
| 書誌情報 |
en : Journal of Low Power Electronics 巻 1, 号 3, p. 319-330, 発行日 2005-12-01 |
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| 出版社 | ||||||||||||||
| 出版者 | American Scientific Publishers | |||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||
| DOI | ||||||||||||||
| 関連タイプ | isIdenticalTo | |||||||||||||
| 識別子タイプ | DOI | |||||||||||||
| 関連識別子 | https://doi.org/10.1166/jolpe.2005.042 | |||||||||||||
| NCID | ||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||||||||
| 収録物識別子 | AA12015350 | |||||||||||||
| ISSN | ||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | PISSN | |||||||||||||
| 収録物識別子 | 1546-1998 | |||||||||||||
| 著作権関連情報 | ||||||||||||||
| 権利情報 | Copyright (c) 2005 American Scientific Publishers | |||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||
| 主題 | Low Capture Power | |||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||
| 主題 | X-Identification | |||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||
| 主題 | X-Filling | |||||||||||||
| 出版タイプ | ||||||||||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||||||||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||||||||||
| 査読の有無 | ||||||||||||||
| 値 | yes | |||||||||||||
| 研究者情報 | ||||||||||||||
| URL | https://hyokadb02.jimu.kyutech.ac.jp/html/300_ja.html | |||||||||||||
| 論文ID（連携） | ||||||||||||||
| 値 | 10029814 | |||||||||||||
| 連携ID | ||||||||||||||
| 値 | 8078 | |||||||||||||
