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  1. 学術雑誌論文
  2. 5 技術(工学)

Logic/Clock-Path-Aware At-Speed Scan Test Generation for Avoiding False Capture Failures and Reducing Clock Stretch

http://hdl.handle.net/10228/00007585
http://hdl.handle.net/10228/00007585
6ba35a41-7532-46f4-875c-e14ba1a26052
名前 / ファイル ライセンス アクション
10286851.pdf 10286851.pdf (764.7 kB)
Item type 学術雑誌論文 = Journal Article(1)
公開日 2020-01-31
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ journal article
タイトル
タイトル Logic/Clock-Path-Aware At-Speed Scan Test Generation for Avoiding False Capture Failures and Reducing Clock Stretch
言語 en
言語
言語 eng
著者 Asada, K.

× Asada, K.

WEKO 26588

en Asada, K.

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温, 暁青

× 温, 暁青

WEKO 1143
e-Rad 20250897
Scopus著者ID 7201738030
九工大研究者情報 300

en Wen, Xiaoqing

ja 温, 暁青

ja-Kana オン, ギョウセイ

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ホルスト, シュテファン

× ホルスト, シュテファン

WEKO 26087
Scopus著者ID 36924245700
九工大研究者情報 100000663

en Holst, Stefan

ja ホルスト, シュテファン

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宮瀬, 紘平

× 宮瀬, 紘平

WEKO 6567
e-Rad 30452824
Scopus著者ID 6507979281
九工大研究者情報 219

en Miyase, Kohei

ja 宮瀬, 紘平

ja-Kana ミヤセ, コウヘイ

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梶原, 誠司

× 梶原, 誠司

WEKO 1147
e-Rad 80252592
Scopus著者ID 7005061314
九工大研究者情報 201

en Kajihara, Seiji

ja 梶原, 誠司

ja-Kana カジハラ, セイジ

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Kochte, M. A.

× Kochte, M. A.

WEKO 26593

en Kochte, M. A.

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Schneider, E.

× Schneider, E.

WEKO 26594

en Schneider, E.

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Wunderlich, H.-J.

× Wunderlich, H.-J.

WEKO 26595

en Wunderlich, H.-J.

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Qian, J.

× Qian, J.

WEKO 26596

en Qian, J.

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抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 IR-drop induced by launch switching activity (LSA) in capture mode during at-speed scan testing increases delay along not only logic paths (LPs) but also clock paths (Cps). Excessive extra delay along LPs compromises test yields due to false capture failures, while excessive extra delay along CPs compromises test quality due to test clock stretch. This paper is the first to mitigate the impact of LSA on both LPs and CPs with a novel LCPA (Logic/Clock Path-Aware) at-speed scan test generation scheme, featuring (1) a new metric for assessing the risk of false capture failures based on the amount of LSA around both LPs and CPs, (2) a procedure for avoiding false capture failures by reducing LSA around LPs or masking uncertain test responses, and (3) a procedure for reducing test clock stretch by reducing LSA around CPs. Experimental results demonstrate the effectiveness of the LCPA scheme in improving test yields and test quality.
言語 en
備考
内容記述タイプ Other
内容記述 2015 IEEE 24th Asian Test Symposium (ATS), 22-25 November 2015, Mumbai, India
書誌情報 en : 2015 IEEE 24th Asian Test Symposium (ATS)

p. 103-108, 発行日 2016-03-03
出版社
出版者 IEEE
DOI
関連タイプ isVersionOf
識別子タイプ DOI
関連識別子 https://doi.org/10.1109/ATS.2015.25
ISBN
識別子タイプ ISBN
関連識別子 978-1-4673-9739-1
日本十進分類法
主題Scheme NDC
主題 548
ISSN
収録物識別子タイプ EISSN
収録物識別子 2377-5386
著作権関連情報
権利情報 Copyright (c) 2015 IEEE. Personal use of this material is permitted. Permission from IEEE must be obtained for all other uses, in any current or future media, including reprinting/republishing this material for advertising or promotional purposes, creating new collective works, for resale or redistribution to servers or lists, or reuse of any copyrighted component of this work in other works.
キーワード
主題Scheme Other
主題 launch switching activity
キーワード
主題Scheme Other
主題 IR-drop
キーワード
主題Scheme Other
主題 logic path
キーワード
主題Scheme Other
主題 clock path
キーワード
主題Scheme Other
主題 false capture failure
キーワード
主題Scheme Other
主題 test clock stretch
キーワード
主題Scheme Other
主題 X-filling
出版タイプ
出版タイプ AM
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_ab4af688f83e57aa
査読の有無
値 yes
研究者情報
表示名 https://hyokadb02.jimu.kyutech.ac.jp/html/300_ja.html
URL https://hyokadb02.jimu.kyutech.ac.jp/html/300_ja.html
論文ID(連携)
値 10286851
連携ID
値 8096
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Ver.1 2023-05-15 14:06:11.968141
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