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  1. 学術雑誌論文
  2. 5 技術(工学)

2D positional mapping of casting condition driven microstructural distribution in organic thin films

http://hdl.handle.net/10228/00007680
http://hdl.handle.net/10228/00007680
ba8d6e29-f8cc-4edf-bd08-daed2e07add5
名前 / ファイル ライセンス アクション
10350049.pdf 10350049.pdf (735.3 kB)
アイテムタイプ 学術雑誌論文 = Journal Article(1)
公開日 2020-03-31
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ journal article
タイトル
タイトル 2D positional mapping of casting condition driven microstructural distribution in organic thin films
言語 en
言語
言語 eng
著者 Nikita, Kumari

× Nikita, Kumari

WEKO 27134

en Nikita, Kumari

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Pandey, Manish

× Pandey, Manish

WEKO 27135

en Pandey, Manish

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永松, 秀一

× 永松, 秀一

WEKO 1670
e-Rad 70404093
Scopus著者ID 7006445804
ORCiD 0000-0002-9181-1831
九工大研究者情報 217

en Nagamatsu, Shuichi

ja 永松, 秀一

ja-Kana ナガマツ, シュウイチ


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パンディ, シャム スディル

× パンディ, シャム スディル

WEKO 6311
e-Rad 60457455
Scopus著者ID 7402453285
九工大研究者情報 332

en Pandey, Shyam Sudhir

ja パンディ, シャム スディル


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抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 Fabrication of large-area thin films and their swift characterization is highly desired for the commercial aspects of the organic electronic devices. Although a number of techniques have been proposed for the large-area thin film fabrication, the microstructural variation is still an issue. In this work, the facile characterization of distribution in thickness and macromolecular ordering in the drop-casted and spin-coated poly(3-hexylthiophene) thin films have been performed through newly developed 2D positional mapping technique. Through this technique, a comparative analysis of the absorption spectra in terms of peak absorbance and excitonic bandwidth (W) was performed for the whole sample, the lower value of W observed for the drop-casted thin film depicts its molecular ordering. Moreover, the difference in W (≈ 10 meV) was noticed between two points (≈1 mm apart) on the drop-casted film, which corresponds to the difference in microstructural ordering and it is complicated to characterize through the conventional spectroscopic techniques.
言語 en
書誌情報 en : Japanese Journal of Applied Physics

巻 59, 号 SC, p. SCCA06, 発行日 2019-11-28
出版社
出版者 応用物理学会
言語 ja
DOI
関連タイプ isVersionOf
識別子タイプ DOI
関連識別子 https://doi.org/10.7567/1347-4065/ab48b9
日本十進分類法
主題Scheme NDC
主題 549
NCID
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AA12295836
ISSN
収録物識別子タイプ PISSN
収録物識別子 0021-4922
ISSN
収録物識別子タイプ EISSN
収録物識別子 1347-4065
著作権関連情報
権利情報 Copyright (c) 2019 The Japan Society of Applied Physics
出版タイプ
出版タイプ AM
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_ab4af688f83e57aa
査読の有無
値 yes
研究者情報
URL https://hyokadb02.jimu.kyutech.ac.jp/html/332_ja.html
論文ID(連携)
値 10350049
連携ID
値 8181
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Ver.1 2023-05-15 13:28:48.069098
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