ログイン
Language:

WEKO3

  • トップ
  • ランキング
To
lat lon distance
To

Field does not validate



インデックスリンク

インデックスツリー

メールアドレスを入力してください。

WEKO

One fine body…

WEKO

One fine body…

アイテム

  1. 学術雑誌論文
  2. 5 技術(工学)

V-I Curve Based Condition Monitoring System for Power Devices

http://hdl.handle.net/10228/00007993
http://hdl.handle.net/10228/00007993
86d62748-d7eb-4a27-a916-ae04ad5ff461
名前 / ファイル ライセンス アクション
nperc157.pdf nperc157.pdf (1.2 MB)
アイテムタイプ 学術雑誌論文 = Journal Article(1)
公開日 2020-12-23
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ journal article
タイトル
タイトル V-I Curve Based Condition Monitoring System for Power Devices
言語 en
言語
言語 eng
著者 Tsukuda, Masanori

× Tsukuda, Masanori

WEKO 28766

en Tsukuda, Masanori

Search repository
Guan, Li

× Guan, Li

WEKO 28767

en Guan, Li

Search repository
Watanabe, Kazuha

× Watanabe, Kazuha

WEKO 28768

en Watanabe, Kazuha

Search repository
Yamaguchi, Haruyuki

× Yamaguchi, Haruyuki

WEKO 28769

en Yamaguchi, Haruyuki

Search repository
Takao, Kenshi

× Takao, Kenshi

WEKO 28770

en Takao, Kenshi

Search repository
大村, 一郎

× 大村, 一郎

WEKO 16176
e-Rad_Researcher 10510670
Scopus著者ID 7003814580
九工大研究者情報 69

en Omura, Ichiro

ja 大村, 一郎

ja-Kana オオムラ, イチロウ


Search repository
抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 According to gaining importance of power electronics systems in the society, reliability issues of power semiconductor devices are the constrains on availability of the system operations. Regular interval based maintenance for higher availability, on the other hand, increases operation cost since the lifetime of power devices have a large deviation with production lots or conditions which they are used. Condition based maintenance (CBM) of power semiconductor devices will be a promising solution for both the availability and cost of power electronics system maintenance. In this study, a high signal resolution condition monitoring system board has been demonstrated. The system monitors real time V-I curve for both switching device and diode with case temperature and the data is stored on board memory and can be monitored on-line. The board was mounted on the gate driver board being supplied power from the gate driver board and demonstrated on a commercial 60kVA inverter.
言語 en
備考
内容記述タイプ Other
内容記述 32nd International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD 2020), 13-18 September, 2020, Vienna, Austria (新型コロナ感染拡大に伴い、現地開催中止)
書誌情報 en : 2020 32nd International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD)

発行日 2020-08-18
出版社
出版者 IEEE
DOI
関連タイプ isVersionOf
識別子タイプ DOI
関連識別子 https://doi.org/10.1109/ISPSD46842.2020.9170059
ISBN
識別子タイプ ISBN
関連識別子 978-1-7281-4836-6
日本十進分類法
主題Scheme NDC
主題 549
ISSN
収録物識別子タイプ EISSN
収録物識別子 1946-0201
著作権関連情報
権利情報 Copyright (c) 2020 IEEE. Personal use of this material is permitted. Permission from IEEE must be obtained for all other uses, in any current or future media, including reprinting/republishing this material for advertising or promotional purposes, creating new collective works, for resale or redistribution to servers or lists, or reuse of any copyrighted component of this work in other works.
キーワード
主題Scheme Other
主題 V-I curve
キーワード
主題Scheme Other
主題 Condition minitoring
キーワード
主題Scheme Other
主題 Power devices
キーワード
主題Scheme Other
主題 IGBT
キーワード
主題Scheme Other
主題 power Diode
キーワード
主題Scheme Other
主題 Condition based maintenance (CBM)
出版タイプ
出版タイプ AM
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_ab4af688f83e57aa
査読の有無
値 yes
連携ID
値 8514
戻る
0
views
See details
Views

Versions

Ver.1 2023-05-15 13:33:05.775213
Show All versions

Share

Share
tweet

Cite as

Other

print

エクスポート

OAI-PMH
  • OAI-PMH JPCOAR 2.0
  • OAI-PMH JPCOAR 1.0
  • OAI-PMH DublinCore
  • OAI-PMH DDI
Other Formats
  • JSON
  • BIBTEX
  • ZIP

コミュニティ

確認

確認

確認


Powered by WEKO3


Powered by WEKO3