WEKO3
アイテム
ＬＳＩ歩留まり向上のための誤テスト回避型テスト方式に関する研究
http://hdl.handle.net/10228/478
http://hdl.handle.net/10228/4787d3959e4-8358-48e2-ae2a-2f24f94a3ea5
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
17500039seika.pdf (3.0 MB)
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| アイテムタイプ | 研究報告書 = Research Paper(1) | |||||||||||
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| 公開日 | 2007-12-07 | |||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_18ws | |||||||||||
| 資源タイプ | research report | |||||||||||
| タイトル | ||||||||||||
| タイトル | ＬＳＩ歩留まり向上のための誤テスト回避型テスト方式に関する研究 | |||||||||||
| 言語 | ja | |||||||||||
| 言語 | ||||||||||||
| 言語 | jpn | |||||||||||
| 著者 |
温, 暁青
× 温, 暁青
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| 備考 | ||||||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||||||
| 内容記述 | 平成17年度～平成18年度科学研究費補助金(基盤研究(c))研究成果報告書 | |||||||||||
| 書誌情報 |
発行日 2007-05 |
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| 出版社 | ||||||||||||
| 出版者 | 九州工業大学 | |||||||||||
| キーワード | ||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||
| 主題 | LST Testing | |||||||||||
| キーワード | ||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||
| 主題 | Power Aware Testing | |||||||||||
| キーワード | ||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||
| 主題 | DFT | |||||||||||
| キーワード | ||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||
| 主題 | Fault Diagnosis | |||||||||||
| キーワード | ||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||
| 主題 | Low Power Testing | |||||||||||
| 査読の有無 | ||||||||||||
| 値 | no | |||||||||||
| 科研課題番号 | ||||||||||||
| 値 | 17500039 | |||||||||||
| 著者所属 | ||||||||||||
| 値 | 九州工業大学大学院情報工学研究科 | |||||||||||
| 備考 | ||||||||||||
| 値 | 別刷論文（p8-9,17-20,34-39,41-46,48-59,62-69,82-89,92-97,99-104)削除 / 登録別刷論文(1)Hybrid fault simulation with compiled and event-driven methods. Proc. IEEE Int'1 Conf. on Design & Test of Integrated System in Nanoscale Technology (DTIS), pp.240-243 (2006) © 2006 IEEE / 登録別刷論文(2)A Novel and Practical Control Scheme for Inter-Clock At-Speed Testing. Proc. IEEE Int'1 Test Conf. Paper 17.2 (2006) © 2006 IEEE / 登録別刷論文(3)Low-Capture-Power Test Generation for Scan-Based At-Speed Testing. Proc. IEEE Int'1 Test Conf. Paper 39.2 (2005) © 2006 IEEE | |||||||||||
