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  1. 学術雑誌論文
  2. 5 技術(工学)

Characterization of critical current density in silver-sheathed Bi-2223 tape

http://hdl.handle.net/10228/600
http://hdl.handle.net/10228/600
81294404-3d22-480d-8059-9c497c305729
名前 / ファイル ライセンス アクション
SCN_20071227161808_001.pdf SCN_20071227161808_001.pdf (929.6 kB)
アイテムタイプ 学術雑誌論文 = Journal Article(1)
公開日 2008-01-07
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ journal article
タイトル
タイトル Characterization of critical current density in silver-sheathed Bi-2223 tape
言語 en
言語
言語 eng
著者 松下, 照男

× 松下, 照男

WEKO 633
e-Rad 90038084
Scopus著者ID 7402307429

en Matsushita, Teruo

ja 松下, 照男

ja-Kana マツシタ, テルオ


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Himeda, Y

× Himeda, Y

WEKO 1812

en Himeda, Y

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木内, 勝

× 木内, 勝

WEKO 631
e-Rad 90304758
Scopus著者ID 40661626600
九工大研究者情報 210

en Kiuchi, Masaru

ja 木内, 勝

ja-Kana キウチ, マサル


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Fujikami, J

× Fujikami, J

WEKO 1814

en Fujikami, J

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Hayashi, K

× Hayashi, K

WEKO 1815

en Hayashi, K

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抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 The critical current property of a superconducting Bi-2223 tape produced by the over pressure processing at the final heat treatment was investigated. The critical current density increased by a factor of 1.6-1.8 at 77.3 K in comparison with the tape produced by the usual process. Thus, the critical current increased in spite of a reduction in the filament thickness. It was also found that the irreversibility field increased by a factor of 1.34 at 77.3 K by the new process. As a result, the enhancement of the critical current density at higher fields is remarkable. These results suggest that the over pressure process not only enriches the mass concentration of the superconducting phase but also contributes to the c-axis alignment. This is supported directly by the reduction of FWHM of rocking curve and indirectly by an enhancement the n value. The critical current property at lower temperatures is also investigated and the possibility of the further improvement of the property is discussed.
言語 en
書誌情報 en : IEEE Transactions on Applied Superconductivity

巻 15, 号 2, p. 2518-2521, 発行日 2005-06-13
出版社
出版者 Institute of Electrical and Electronics Engineers
言語 en
DOI
関連タイプ isIdenticalTo
識別子タイプ DOI
関連識別子 https://doi.org/10.1109/TASC.2005.847512
CRID
関連タイプ isIdenticalTo
識別子タイプ URI
関連識別子 https://cir.nii.ac.jp/crid/1050564288863136384
日本十進分類法
主題Scheme NDC
主題 541
NCID
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AA10791666
ISSN
収録物識別子タイプ PISSN
収録物識別子 1051-8223
ISSN
収録物識別子タイプ EISSN
収録物識別子 1558-2515
著作権関連情報
権利情報 ©2005 IEEE. Personal use of this material is permitted. However, permission to reprint/republish this material for advertising or promotional purposes or for creating new collective works for resale or redistribution to servers or lists, or to reuse any copyrighted component of this work in other works must be obtained from the IEEE.
出版タイプ
出版タイプ VoR
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
査読の有無
値 yes
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Ver.1 2023-05-15 14:11:57.027200
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