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Delay Testing: Improving Test Quality and Avoiding Over-testing
http://hdl.handle.net/10228/00006232
http://hdl.handle.net/10228/00006232ca9b21b5-711e-4f7f-84a7-2860248f59f2
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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Ipsj4_117_130.pdf (422.7 kB)
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| アイテムタイプ | 学術雑誌論文 = Journal Article(1) | |||||
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| 公開日 | 2017-06-06 | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||
| 資源タイプ | journal article | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | Delay Testing: Improving Test Quality and Avoiding Over-testing | |||||
| 言語 | en | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | eng | |||||
| 著者 |
梶原, 誠司
× 梶原, 誠司× Ohtake, Satoshi× Yoneda, Tomokazu |
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| 抄録 | ||||||
| 内容記述タイプ | Abstract | |||||
| 内容記述 | Delay testing is one of key processes in production test to ensure high quality and high reliability for logic circuits. Test escape missing defective chips can be reduced by introducing delay testing. On the other hand, we need to concern yield loss caused by delay testing, i.e., over-testing. Many methods and techniques have been developed to solve problems on delay testing. In this paper, we introduce fundamental techniques of delay testing and survey recent problems and solutions. Especially we focus on techniques to enhance test quality, to avoid over-testing, and to make test design efficient by treating circuits described at register transfer level. | |||||
| 言語 | en | |||||
| 書誌情報 |
en : IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology 巻 4, p. 117-130, 発行日 2011-08-10 |
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| 出版社 | ||||||
| 出版者 | 情報処理学会 | |||||
| 言語 | ja | |||||
| DOI | ||||||
| 関連タイプ | isIdenticalTo | |||||
| 識別子タイプ | DOI | |||||
| 関連識別子 | https://doi.org/10.2197/ipsjtsldm.4.117 | |||||
| ISSN | ||||||
| 収録物識別子タイプ | EISSN | |||||
| 収録物識別子 | 1882-6687 | |||||
| 著作権関連情報 | ||||||
| 権利情報 | Copyright (c) 2011 by the Information Processing Society of Japan | |||||
| 著作権関連情報 | ||||||
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| 出版タイプ | ||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||
| 査読の有無 | ||||||
| 値 | yes | |||||
| 研究者情報 | ||||||
| URL | https://hyokadb02.jimu.kyutech.ac.jp/html/201_ja.html | |||||
| 論文ID（連携） | ||||||
| 値 | 10227023 | |||||
| 連携ID | ||||||
| 値 | 4321 | |||||
